AFR FIT für die Weibull-Verteilung
Der Weibull-Verteilungsrechner dient der Modellierung von Fällen, in denen das „schwächste Glied” zum Ausfall der Einheit oder des Systems führt.
Die Weibull-Verteilung wird von der Extremwerttheorie (EVT) abgeleitet. Beispiel-Mechanismen für Halbleiter, für die das Weibull-Modell i. d. R. verwendet wird, sind der TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown), die thermische Ermüdung von Lötverbindungen oder mechanisches Versagen.
Zweck
Berechnet die durchschnittliche Ausfallrate FIT zwischen den angegebenen Start- und Endzeiten für die durch den Formparameter definierte Weibull-Verteilung.
Gleichungen
\[\begin{aligned} Reliability = e^{- \left({Time} / {Scale}\right) ^\beta} \\ \end{aligned} \]
\[\begin{aligned} \mathbf{Fail Probability \left(t_{end} - t_{start} \right)} = \frac{ \left( {\mathrm{Reliability}_{Start}} \right) - \left( {\mathrm{Reliability}_{End}} \right) }{\mathrm{Reliability}_{Start}} \\ \end{aligned} \]
\[\begin{aligned} \mathbf{AFR FIT} = 10^9 * \frac{ ln \left({\mathrm{Reliability}_{Start}} \right) - ln\left({\mathrm{Reliability}_{End}} \right) }{t_{end} - t_{start} } \\ \end{aligned} \]
β – Formparameter
Ausfallwahrscheinlichkeit – Wahrscheinlichkeit, mit dem ein zum Zeitpunkt tStart intaktes System zum Zeitpunkt tEnde ausgefallen sein wird.
Wichtige Einschränkungen bei der Verwendung der Daten
TI stellt Ihnen diese Daten unterstützend zur Verfügung. Allerdings unterliegt die Eignung für die Einschätzung der Leistungsfähigkeit von TI-Komponenten (einschließlich zugehöriger Software) in verschiedenen Anwendungen deutlichen Einschränkungen.
DIESE DATEN WERDEN „WIE BESEHEN“ BEREITGESTELLT, UND ZWAR OHNE JEGLICHE EXPLIZIT ODER IMPLIZIT AUSGEDRÜCKTE GARANTIE DER HANDELSÜBLICHKEIT, DER NICHTVERLETZUNG VON RECHTEN AN GEISTIGEM EIGENTUM ODER DER EIGNUNG FÜR EINEN BESTIMMTEN ZWECK. IN KEINEM FALL HAFTET TI ODER EINER DER ZULIEFERER FÜR SCHÄDEN JEDWEDER ART – EINSCHLIESSLICH, OHNE DARAUF BESCHRÄNKT ZU SEIN, SCHÄDEN AUS ENTGANGENEM GEWINN, UNTERBROCHENER GESCHÄFTSTÄTIGKEIT UND VERLUST VON DATEN –, DIE AUS DER NUTZUNG ODER UNMÖGLICHKEIT DER NUTZUNG DER DATEN ENTSTEHEN, AUCH WENN TI ÜBER DIE MÖGLICHKEIT SOLCHER SCHÄDEN INFORMIERT WAR.
Die Nutzung dieser Daten und die Folgen einer solchen Nutzung unterliegen allein Ihrer Verantwortung. Sie sollten genügend technische und zusätzliche Qualifikations-Tests durchführen, um Ihre Anwendung gründlich einzuschätzen und die Eignung einer möglichen IT-Komponente zur Nutzung in dieser Anwendung festzustellen.
Komponenten von TI wurden dafür entworfen und produziert, um innerhalb der in den Produktdatenblättern von TI aufgeführten elektrischen, thermischen, mechanischen sowie anderen Parametern genutzt zu werden. Die von Texas Instruments bereitgestellten Qualitäts- und Zuverlässigkeitsdaten, wie MTBF und FIT, sind zur Erleichterung von Schätzungen zur Komponentenleistung einzig und allein aufgrund von Erfahrungswerten aus der Vergangenheit gedacht. Dies bedeutet nicht, dass die in solchen Daten beschriebenen Leistungsniveaus erreicht werden können, wenn die Komponente außerhalb geeigneter Bedingungen oder den beschriebenen Bedingungen betrieben wird. Die Genauigkeit aller Projekte unterliegt zahlreichen Faktoren außerhalb der Kenntnis oder Kontrolle von TI. Nutzer sollten die Aussagewerte mit Vorsicht und in Anbetracht weiterer angemessener Faktoren beurteilen.
DIESE INFORMATIONEN DÜRFEN NICHT ALS HILFE FÜR DAS SOGENANNTE „UPRATING“ ODER „UPSCREENING“ VON KOMPONENTEN FÜR DIE NUTZUNG IN MILITÄRISCHEN ODER ANDERWEITIG KRITISCHEN ANWENDUNGEN VERWENDET WERDEN. Mit einer Plastikhülle versehene Halbleiterkomponenten von TI wurden weder für die Nutzung in militärischen Anwendungen und/oder militärischen Umgebungen entworfen noch als dafür geeignet erklärt. Diese Informationen unterliegen als Hinweise zur Leistung von kommerziellen und serienmäßig produzierten Komponenten in außergewöhnlichen Anwendungen oder Umgebungen sowie zu den mit diesen verbundenen Gefahren maßgeblichen Einschränkungen. TI ist fest davon überzeugt, dass Komponenten niemals außerhalb ihrer spezifischen Grenzen verwendet werden sollten, da das Upscreening direkt zu teilweisen oder vollständigen System- oder Komponentenproblemen führen kann. TI übernimmt keine Verantwortung für Komponenten- oder Systemprobleme, die aufgrund falscher Verwendung entstehen. Durch die Verwendung von TI-Komponenten außerhalb der im offiziellen TI-Datenblatt benannten Grenzen erlischt die Garantie von TI bezüglich dieser Geräte.
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