JAJSIL3K june 2007 – june 2023 REF5010 , REF5020 , REF5025 , REF5030 , REF5040 , REF5045 , REF5050
PRODUCTION DATA
あらゆる半導体デバイスは、経年劣化や環境の影響により、時間とともに半導体ダイとパッケージ材質の物理的な変化が発生します。これらの変化と、関連するパッケージからダイへの圧力により、高精度電圧リファレンスの出力電圧は時間の経過とともに変動します。このような変化の値は、データシートに長期安定性 (別名:長期ドリフト (LTD)) と呼ばれるパラメータで規定されています。LTD の計算方法を、式 4 に示します。LTD の値は、時間の経過に応じて出力電圧が高くドリフトする場合は正、時間の経過に応じて電圧が低下する場合は負になることに注意してください。REF50xx の最初の 4000 時間の動作における出力電圧のドリフトを、図 7-23 から図 7-30 までに示します。
ここで