Fehleranalyse und Prozessentwicklung an Halbleiterbauteilen unter Verwendung von:

• Rasterelektronenmikroskopie(SEM)

• Rasterkraftmikroskopie(AFM)

• Energiedispersive Roentgenspektroskopie (EDX)

• Ionenstrahlmikroskopie (FIB)

• Plasma und Nasschemie fuer Probenpräperationstechniken

• und diverse analytische Verfahren

Zeitraum:

Minimum ca. 12 Wochen

Ihr Profil:

• Student der Physik, Physikalische Technik, Electrotechnik, Informatik, Mechatronik, Feinwerktechnik oder vergleichbar

Wir bieten:

• Die Möglichkeit, viel technische Erfahrung zu sammeln und die gelernte Theorie in die Praxis umzusetzen

• Ein internationales Umfeld und Arbeiten

• Ein sehr offenes, team-orientiertes Betriebsklima

• Eine angemessene Vergütung