TI Precision Labs-Seminar

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TI Precision Labs (TIPL) ist das umfassendste Schulungsangebot für Entwickler von Analogsignalketten, das von Grundkenntnissen bis hin zu fortgeschrittenen Konzepten alles abdeckt. Ganz gleich, ob Sie neu in der Branche sind oder Ihr Wissen im analogen Bereich auffrischen möchten: die Seminare der TI Precision Labs vertiefen das technische Know-how erfahrener Ingenieure und beschleunigen die Weiterentwicklung von Berufseinsteigern. Lassen Sie sich von unseren Branchenexperten durch unterschiedliche Themen führen und werden Sie selbst zum Spezialisten. Sie können nicht persönlich an einem der TIPL-Seminare teilnehmen? Sehen Sie sich On-Demand-Schulungen rund um die Uhr an.

 

Informationen zu Standorten & Anmeldung

Seminar
Datum
Link zur Registrierung
Detroit, USA
6. Mai 2025 Ereignis geschlossen
Tokio, Japan 11. September 2025 Jetzt anmelden
Taipeh, Taiwan 16. September 2025 Jetzt anmelden
Shanghai (China) 16. Oktober 2025 Demnächst
Beijing, China 21. Oktober 2025
Demnächst

 

Veranstaltungsdetails

Grundlagen

Grundlagen und Spezifikationen von Verstärkern

Diese Veranstaltung befasst sich mit Vorgehensweisen für die Vorhersage von Fehlern aufgrund von Vos, Ib, Temperaturdrift sowie dem internen Ursprung dieser Fehlerquellen. Sie bietet außerdem einen Überblick über dynamisches Verhalten wie Iq, Anstiegsrate und Bandbreite, gefolgt von einer Diskussion über Datenblatt-Parameterspezifikationen.

DAC- und ADC-Grundlagen

Bei dieser Veranstaltung werden die wichtigsten Eigenschaften von String-, R-2R- und multiplizierenden DAC-Architekturen sowie von Delta-Sigma- und SAR-ADC-Architekturen vorgestellt. Sie behandelt die Ableitung von DAC- und ADC-Übertragungsfunktionen und schließt mit einem Überblick über die Fehlerquellen der Übertragungsfunktion, wie Verstärkungsfehler, Offsetfehler, Null-Code-Fehler und Messbereichsfehler.

Messeinrichtungsverstärker , Differenzverstärker und Komparatoren

Bei dieser Veranstaltung werden Fehlerquellen in Messeinrichtungsverstärkern (Instrumentation Amplifiers, INA) behandelt, wie Vos, IB, Verstärkungsfehler und Temperaturdrift. Außerdem werden dynamische Leistungsaspekte wie Bandbreite und Anstiegsrate sowohl für Spannungs- als auch Stromrückkopplungs-INAs behandelt. Darüber hinaus wird die Verifizierung des Eingangs-Gleichtakts mit Softwaretools demonstriert und es werden  Fehlerquellen und Einschränkungen für Komparatoren erörtert.

Wichtige Aspekte des analogen Verhaltens von DACs und ADCs

Bei dieser Veranstaltung werden DAC-Linearitätsfehler und TUE sowie dynamisches Verhalten, Ausgangsstörungen und Ausgangslast-Stromkapazität für DACs mit gepuffertem Ausgang behandelt. Sie befasst sich auch mit der Auswahl eines Ausgangspuffers für nicht-gepufferte DACs. Der ADC-Teil der Veranstaltung bietet einen Überblick über die DC- und AC-Spezifikationen von A/D-Wandlern und schließt mit einer Diskussion über A/D-Wandler mit unsymmetrischen und differenziellen Signalen sowie über unipolare und bipolare A/D-Wandler.

Erweitert

Erweitertes Verständnis des dynamischen Ausgangsverhaltens von DAC-Wandlern

Bei dieser Veranstaltung konzentrieren wir uns auf die Interpretation der DAC-Ausgangslastdiagramme und das Verständnis der Leistungsreserven. Außerdem wird das erweiterte dynamische Verhalten von DACs behandelt, z. B. Rauschquellen, Einschwingzeit, Steuerung von Anstiegsraten und Ausgangsstörungen. Außerdem wird während der Veranstaltung anhand von DAC11001-Labormessungen gezeigt, wie dieses dynamischen Verhalten zur Verzerrung (THD+N) beiträgt.

Verstärker-Eingangsspannungsrauschen, Eingangsstromrauschen und Filtertechniken

In dieser Veranstaltung werden gängige Rauschquellen und Filtertechniken sowie Berechnungen, Simulationen und Theorie behandelt. Sie umfasst Berechnungen und Simulationen zur Vorhersage des Verstärker- und Widerstandsrauschens und definiert Rauschverstärkung, Rauschbandbreite, spektrale Dichte von Strom- und Spannungsrauschen sowie RMS-Gesamtrauschen. Außerdem werden Flicker- und Breitbandrauschen erläutert und reale Messungen mit Berechnungen verglichen.

Grundlegendes zu ADC-Rauschen

Diese Sitzung gibt Ihnen einen Überblick über die Analyse und Berechnung des Rauschens in der Signalkette. Teilnehmende erhalten ein detailliertes Verständnis dafür, wie Analog-Digital-Wandler (Analog-tp-Digital Converters, ADCs), Verstärker und Spannungsreferenzen zum Gesamtrauschen in einem typischen Datenerfassungssystem beitragen. In dieser Sitzung sollen Teilnehmende mit den Tools ausgestattet werden, mit denen die kombinierten Auswirkungen dieser  Komponenten auf das Rauschverhalten des Systems bewertet werden können. Zu den behandelten Themen gehören die verschiedenen Arten von Rauschen in ADCs, Methoden und Parameter zur Rauschmessung, eine effektive Berechnung der Rauschbandbreite , warum mehr Verstärkung nicht immer zu einem geringeren Rauschen führt und der Einfluss von Referenzrauschen auf das Gesamtrauschen der Signalkette.

Verstärker-Schaltungsstabilitätsanalyse und Kompensationsschemata

Bei dieser Veranstaltung werden Schaltungsentwurfstechniken zur Verbesserung der Stabilität behandelt. Dazu werden Themen wie die Ansteuerung kapazitiver Lasten oder übermäßige Kapazität auf dem invertierenden Knoten eines Operationsverstärkers behandelt, die zu Schwingungen führen können. Die Präsentation zeigt, wie sich die Stabilität eines Verstärkers mithilfe von Simulationen vorhersagen lässt, und erörtert Methoden zur Behebung von Stabilitätsproblemen.