Batterieprüfung mit GaN und C2000

Die Vorführung zeigt die Implementierung einer präzisen Lade- und Entladesteuerung mit C2000™ Echtzeit-MCUs und dem neuestem 100-V-GaN-Baustein von TI. Dieses Referenzdesign verwendet ein hochauflösendes PWM-Subsystem von C2000 und einen 16-Bit-Präzisions-SAR-ADC, um einen Strom- und Spannungsregelungsfehler besser als ±0,02 % bei voller Skalierung zu erreichen.