JAJSKC4 December   2020 DS160PR412

PRODUCTION DATA  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
  4. Revision History
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 DC Electrical Characteristics
    6. 6.6 High Speed Electrical Characteristics
    7. 6.7 SMBUS/I2C Timing Charateristics
    8. 6.8 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Linear Equalization
      2. 7.3.2 Flat Gain
      3. 7.3.3 Receiver Detect State Machine
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Active PCIe Mode
      2. 7.4.2 Active Buffer Mode
      3. 7.4.3 Standby Mode
    5. 7.5 Programming
      1. 7.5.1 Control and Configuration Interface
        1. 7.5.1.1 Pin Mode
          1. 7.5.1.1.1 Four-Level Control Inputs
        2. 7.5.1.2 SMBUS/I2C Register Control Interface
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Applications
      1. 8.2.1 PCIe x8 Lane Switching
        1. 8.2.1.1 Design Requirements
        2. 8.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 8.2.1.3 Pin-to-pin Passive versus Redriver Option
        4. 8.2.1.4 Application Curves
      2. 8.2.2 DisplayPort Application
  9. Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
  11. 11Layout Example
  12. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 12.2 サポート・リソース
    3. 12.3 Trademarks
    4. 12.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 12.5 用語集
  13. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。