JAJSRU9D October 2023 – June 2025 TMCS1133
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
| パラメータ | テスト条件 | 値 | 単位 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 一般 | |||||
| CLR | 外部空間距離(1) | 空気を介した最短のピン間距離 | ≥ 8 | mm | |
| CPG | 外部沿面距離(1) | パッケージ表面に沿った最短のピン間距離 | ≥ 8 | mm | |
| CTI | 比較トラッキング インデックス | DIN EN 60112 、IEC 60112 | ≥ 600 | V | |
| 材料グループ | IEC 60664-1 に準拠 | I | |||
| IEC 60664-1 に準拠した過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 600V 以下 | I-IV | |||
| VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 1697 | VPK | |
| VIOWM | 最大強化絶縁動作電圧 | AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB) テスト、故障率 < 1ppm、入力絶縁セクションを参照してください。 | 950 | VRMS | |
| 1343 | VDC | ||||
| 最大基本絶縁動作電圧 | AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB) テスト、故障率 < 1000ppm、入力絶縁セクションを参照してください。 | 1200 | VRMS | ||
| 1697 | VDC | ||||
| VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = √2 x VISO、t = 60s (認定); VTEST = 1.2 × VIOTM、t = 1s (100% 出荷時) |
7071 | VPK | |
| VIOSM | 最大サージ絶縁電圧(2) | IEC 62368-1 に準拠したテスト手法、1.2/50μs 波形、 VTEST = 1.3 × VIOSM (認定) |
10000 | VPK | |
| qpd | 見掛けの電荷(3) | 方法 b1:ルーチン テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ テスト) で、Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s、Vpd(m) = 1.875 × VIORM、tm = 1s | ≦ 5 | pC | |
| CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ(4) | VIO = 0.4 sin (2πft)、f = 1MHz | 0.6 | pF | |
| RIO | 絶縁抵抗、入力から出力へ(4) | VIO = 500V、TA = 25℃ | >1012 | Ω | |
| VIO = 500V (100℃ ≦ TA ≦ 125℃時) | >1011 | Ω | |||
| VIO = 500V (TS = 150℃時) | >109 | Ω | |||
| 汚染度 | 2 | ||||
| UL 1577 | |||||
| VISO | 絶縁耐圧 | VTEST = VISO、t = 60s (認定)、 VTEST = 1.2 × VISO、t = 1s (100% 出荷時テスト) |
5000 | VRMS | |