JAJSGF4F November   2012  – September 2021 TMS320F28050 , TMS320F28051 , TMS320F28052 , TMS320F28052F , TMS320F28052M , TMS320F28053 , TMS320F28054 , TMS320F28054F , TMS320F28054M , TMS320F28055

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1. 3.1 機能ブロック図
  4. 4 Revision History
  5. 5 Device Comparison
    1. 5.1 Related Products
  6. 6 Terminal Configuration and Functions
    1. 6.1 Pin Diagram
    2. 6.2 Signal Descriptions
      1. 6.2.1 Signal Descriptions
  7. 7 Specifications
    1. 7.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2  ESD Ratings – Commercial
    3. 7.3  ESD Ratings – Automotive
    4. 7.4  Recommended Operating Conditions
    5. 7.5  Power Consumption Summary
      1. 7.5.1 TMS320F2805x Current Consumption at 60-MHz SYSCLKOUT
      2. 7.5.2 Reducing Current Consumption
      3. 7.5.3 Current Consumption Graphs (VREG Enabled)
    6. 7.6  Electrical Characteristics
    7. 7.7  Thermal Resistance Characteristics for PN Package
    8. 7.8  Thermal Design Considerations
    9. 7.9  JTAG Debug Probe Connection Without Signal Buffering for the MCU
    10. 7.10 Parameter Information
      1. 7.10.1 Timing Parameter Symbology
      2. 7.10.2 General Notes on Timing Parameters
    11. 7.11 Test Load Circuit
    12. 7.12 Power Sequencing
      1. 7.12.1 Reset ( XRS) Timing Requirements
      2. 7.12.2 Reset ( XRS) Switching Characteristics
    13. 7.13 Clock Specifications
      1. 7.13.1 Device Clock Table
        1. 7.13.1.1 2805x Clock Table and Nomenclature (60-MHz Devices)
        2. 7.13.1.2 Device Clocking Requirements/Characteristics
        3. 7.13.1.3 Internal Zero-Pin Oscillator (INTOSC1, INTOSC2) Characteristics
      2. 7.13.2 Clock Requirements and Characteristics
        1. 7.13.2.1 XCLKIN Timing Requirements - PLL Enabled
        2. 7.13.2.2 XCLKIN Timing Requirements - PLL Disabled
        3. 7.13.2.3 XCLKOUT Switching Characteristics (PLL Bypassed or Enabled)
    14. 7.14 Flash Timing
      1. 7.14.1 Flash/OTP Endurance for T Temperature Material
      2. 7.14.2 Flash/OTP Endurance for S Temperature Material
      3. 7.14.3 Flash/OTP Endurance for Q Temperature Material
      4. 7.14.4 Flash Parameters at 60-MHz SYSCLKOUT
      5. 7.14.5 Flash/OTP Access Timing
      6. 7.14.6 Flash Data Retention Duration
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
      1. 8.1.1  CPU
      2. 8.1.2  Control Law Accelerator
      3. 8.1.3  Memory Bus (Harvard Bus Architecture)
      4. 8.1.4  Peripheral Bus
      5. 8.1.5  Real-Time JTAG and Analysis
      6. 8.1.6  Flash
      7. 8.1.7  M0, M1 SARAMs
      8. 8.1.8  L0 SARAM, and L1, L2, and L3 DPSARAMs
      9. 8.1.9  Boot ROM
        1. 8.1.9.1 Emulation Boot
        2. 8.1.9.2 GetMode
        3. 8.1.9.3 Peripheral Pins Used by the Bootloader
      10. 8.1.10 Security
      11. 8.1.11 Peripheral Interrupt Expansion Block
      12. 8.1.12 External Interrupts (XINT1 to XINT3)
      13. 8.1.13 Internal Zero-Pin Oscillators, Oscillator, and PLL
      14. 8.1.14 Watchdog
      15. 8.1.15 Peripheral Clocking
      16. 8.1.16 Low-power Modes
      17. 8.1.17 Peripheral Frames 0, 1, 2, 3 (PFn)
      18. 8.1.18 General-Purpose Input/Output Multiplexer
      19. 8.1.19 32-Bit CPU-Timers (0, 1, 2)
      20. 8.1.20 Control Peripherals
      21. 8.1.21 Serial Port Peripherals
    2. 8.2 Memory Maps
    3. 8.3 Register Map
    4. 8.4 Device Emulation Registers
    5. 8.5 VREG, BOR, POR
      1. 8.5.1 On-chip VREG
        1. 8.5.1.1 Using the On-chip VREG
        2. 8.5.1.2 Disabling the On-chip VREG
      2. 8.5.2 On-chip Power-On Reset and Brownout Reset Circuit
    6. 8.6 System Control
      1. 8.6.1 Internal Zero-Pin Oscillators
      2. 8.6.2 Crystal Oscillator Option
      3. 8.6.3 PLL-Based Clock Module
      4. 8.6.4 Loss of Input Clock (NMI-watchdog Function)
      5. 8.6.5 CPU-watchdog Module
    7. 8.7 Low-power Modes Block
    8. 8.8 Interrupts
      1. 8.8.1 External Interrupts
        1. 8.8.1.1 External Interrupt Electrical Data/Timing
          1. 8.8.1.1.1 External Interrupt Timing Requirements
          2. 8.8.1.1.2 External Interrupt Switching Characteristics
    9. 8.9 Peripherals
      1. 8.9.1  Control Law Accelerator
        1. 8.9.1.1 CLA Device-Specific Information
        2. 8.9.1.2 CLA Register Descriptions
      2. 8.9.2  Analog Block
        1. 8.9.2.1 Analog-to-Digital Converter
          1. 8.9.2.1.1 ADC Device-Specific Information
          2. 8.9.2.1.2 ADC Electrical Data/Timing
            1. 8.9.2.1.2.1 ADC Electrical Characteristics
            2. 8.9.2.1.2.2 ADC Power Modes
            3. 8.9.2.1.2.3 External ADC Start-of-Conversion Electrical Data/Timing
              1. 8.9.2.1.2.3.1 External ADC Start-of-Conversion Switching Characteristics
            4. 8.9.2.1.2.4 Internal Temperature Sensor
              1. 8.9.2.1.2.4.1 Temperature Sensor Coefficient
            5. 8.9.2.1.2.5 ADC Power-Up Control Bit Timing
              1. 8.9.2.1.2.5.1 ADC Power-Up Delays
            6. 8.9.2.1.2.6 ADC Sequential and Simultaneous Timings
        2. 8.9.2.2 Analog Front End
          1. 8.9.2.2.1 AFE Device-Specific Information
          2. 8.9.2.2.2 AFE Register Descriptions
          3. 8.9.2.2.3 PGA Electrical Data/Timing
          4. 8.9.2.2.4 Comparator Block Electrical Data/Timing
            1. 8.9.2.2.4.1 Electrical Characteristics of the Comparator/DAC
          5. 8.9.2.2.5 VREFOUT Buffered DAC Electrical Data
            1. 8.9.2.2.5.1 Electrical Characteristics of VREFOUT Buffered DAC
      3. 8.9.3  Detailed Descriptions
      4. 8.9.4  Serial Peripheral Interface
        1. 8.9.4.1 SPI Device-Specific Information
        2. 8.9.4.2 SPI Register Descriptions
        3. 8.9.4.3 SPI Master Mode Electrical Data/Timing
          1. 8.9.4.3.1 SPI Master Mode External Timing (Clock Phase = 0)
          2. 8.9.4.3.2 SPI Master Mode External Timing (Clock Phase = 1)
        4. 8.9.4.4 SPI Slave Mode Electrical Data/Timing
          1. 8.9.4.4.1 SPI Slave Mode External Timing (Clock Phase = 0)
          2. 8.9.4.4.2 SPI Slave Mode External Timing (Clock Phase = 1)
      5. 8.9.5  Serial Communications Interface
        1. 8.9.5.1 SCI Device-Specific Information
        2. 8.9.5.2 SCI Register Descriptions
      6. 8.9.6  Enhanced Controller Area Network
        1. 8.9.6.1 eCAN Device-Specific Information
        2. 8.9.6.2 eCAN Register Descriptions
      7. 8.9.7  Inter-Integrated Circuit
        1. 8.9.7.1 I2C Device-Specific Information
        2. 8.9.7.2 I2C Register Descriptions
        3. 8.9.7.3 I2C Electrical Data/Timing
          1. 8.9.7.3.1 I2C Timing Requirements
          2. 8.9.7.3.2 I2C Switching Characteristics
      8. 8.9.8  Enhanced Pulse Width Modulator
        1. 8.9.8.1 ePWM Device-Specific Information
        2. 8.9.8.2 ePWM Register Descriptions
        3. 8.9.8.3 ePWM Electrical Data/Timing
          1. 8.9.8.3.1 ePWM Timing Requirements
          2. 8.9.8.3.2 ePWM Switching Characteristics
          3. 8.9.8.3.3 Trip-Zone Input Timing
            1. 8.9.8.3.3.1 Trip-Zone Input Timing Requirements
      9. 8.9.9  Enhanced Capture Module
        1. 8.9.9.1 eCAP Module Device-Specific Information
        2. 8.9.9.2 eCAP Module Register Descriptions
        3. 8.9.9.3 eCAP Module Electrical Data/Timing
          1. 8.9.9.3.1 eCAP Timing Requirement
          2. 8.9.9.3.2 eCAP Switching Characteristics
      10. 8.9.10 Enhanced Quadrature Encoder Pulse
        1. 8.9.10.1 eQEP Device-Specific Information
        2. 8.9.10.2 eQEP Register Descriptions
        3. 8.9.10.3 eQEP Electrical Data/Timing
          1. 8.9.10.3.1 eQEP Timing Requirements
          2. 8.9.10.3.2 eQEP Switching Characteristics
      11. 8.9.11 JTAG Port
        1. 8.9.11.1 JTAG Port Device-Specific Information
      12. 8.9.12 General-Purpose Input/Output
        1. 8.9.12.1 GPIO Device-Specific Information
        2. 8.9.12.2 GPIO Register Descriptions
        3. 8.9.12.3 GPIO Electrical Data/Timing
          1. 8.9.12.3.1 GPIO - Output Timing
            1. 8.9.12.3.1.1 General-Purpose Output Switching Characteristics
          2. 8.9.12.3.2 GPIO - Input Timing
            1. 8.9.12.3.2.1 General-Purpose Input Timing Requirements
          3. 8.9.12.3.3 Sampling Window Width for Input Signals
          4. 8.9.12.3.4 Low-Power Mode Wakeup Timing
            1. 8.9.12.3.4.1 IDLE Mode Timing Requirements
            2. 8.9.12.3.4.2 IDLE Mode Switching Characteristics
            3. 8.9.12.3.4.3 STANDBY Mode Timing Requirements
            4. 8.9.12.3.4.4 STANDBY Mode Switching Characteristics
            5. 8.9.12.3.4.5 HALT Mode Timing Requirements
            6. 8.9.12.3.4.6 HALT Mode Switching Characteristics
  9. 9 Applications, Implementation, and Layout
    1. 9.1 TI Reference Design
  10. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 Getting Started
    2. 10.2 Device and Development Support Tool Nomenclature
    3. 10.3 Tools and Software
    4. 10.4 Documentation Support
    5. 10.5 サポート・リソース
    6. 10.6 Trademarks
    7. 10.7 Electrostatic Discharge Caution
    8. 10.8 Glossary
  11. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 11.1 Packaging Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

1 特長

  • 高効率の 32 ビット CPU (TMS320C28x)
    • 60MHz (サイクル・タイム 16.67ns)
    • 16 × 16 および 32 × 32 の積和 (MAC) 演算
    • 16 ビット × 16 ビットのデュアル MAC
    • ハーバード・バス・アーキテクチャ
    • アトミック処理
    • 高速な割り込み応答とプロセッシング
    • 統合メモリ・プログラミング・モデル
    • 高いコード効率 (C/C++ およびアセンブリ)
  • プログラム可能な制御補償器アクセラレータ (CLA)
    • 32 ビット浮動小数点演算アクセラレータ
    • メイン CPU と独立にコードを実行
  • デュアル・ゾーンのセキュリティ・モジュール
  • エンディアンネス：リトル・エンディアン
  • 低コストのデバイスとシステム：
    • 3.3V 単一電源
    • 電源シーケンス不要
    • パワー・オン・リセットおよびブラウンアウト・リセットを内蔵
    • 低消費電力
    • アナログ・サポート・ピンなし
  • クロック：
    • 2 つの内部ゼロ・ピン発振器
    • オンチップの水晶発振器と外部クロック入力
    • ウォッチドッグ・タイマ・モジュール
    • クロック消失検出回路
  • 個別にプログラム可能な最大 42 の多重化された汎用入出力 (GPIO) ピン (入力フィルタ付き)
  • JTAG バウンダリ・スキャンのサポート
    • IEEE 標準 1149.1-1990 標準テスト・アクセス・ポートおよびバウンダリ・スキャン・アーキテクチャ
  • すべてのペリフェラル割り込みをサポートする、ペリフェラル割り込み拡張 (PIE) ブロック
  • 3 つの 32 ビット CPU タイマ
  • 各 ePWM モジュールに独立の 16 ビット・タイマ
  • オンチップ・メモリ
    • フラッシュ、SARAM、メッセージ RAM、OTP、CLA データ ROM、ブート ROM、セキュア ROM を使用可能
  • 128 ビットのセキュリティ・キーおよびロック
    • セキュア・メモリ・ブロックを保護
    • ファームウェアのリバース・エンジニアリングを防止
  • シリアル・ポート・ペリフェラル
    • 3 つのシリアル通信インターフェイス (SCI) UART (Universal Asynchronous Receiver/Transmitter) モジュール
    • 1 つのシリアル・ペリフェラル・インターフェイス (SPI) モジュール
    • 1 つの I2C (Inter-Integrated-Circuit) バス
    • 1 つの拡張コントローラ・エリア・ネットワーク (eCAN) バス
  • 拡張制御ペリフェラル
    • 拡張パルス幅変調器 (ePWM) モジュール
    • 拡張キャプチャ (eCAP) モジュール
    • 拡張直交エンコーダ・パルス (eQEP) モジュール
  • アナログ・ペリフェラル
    • 1 つの 12 ビット A/D コンバータ (ADC)
    • 1つの発振器補償用オンチップ温度センサ
    • 最大 7 つのコンパレータと、最大 3 つの内蔵 D/A コンバータ (DAC)
    • 1 つのバッファ付き基準 DAC
    • 最大 4 つのプログラム可能ゲイン・アンプ (PGA)
    • 最大 4 つのデジタル・フィルタ
  • 高度なデバッグ機能
    • 分析およびブレークポイント機能
    • ハードウェアによるリアルタイム・デバッグ
  • 80 ピンの PN 薄型クワッド・フラットパック (LQFP)
  • 温度オプション
    • T：–40℃～105℃
    • S：–40℃～125℃
    • Q：–40℃～125℃
      (車載アプリケーション用に AEC Q100 認定)