JAJU578C July   2018  – March 2021 TPS274160

 

  1.   1
  2.   説明
  3.   リソース
  4.   特長
  5.   アプリケーション
  6.   6
  7. 1システムの説明
    1. 1.1 主なシステム仕様
  8. 2システム概要
    1. 2.1 ブロック図
    2. 2.2 主な使用製品
      1. 2.2.1 LM5165
      2. 2.2.2 TLC59282
      3. 2.2.3 TPS4H160-Q1
      4. 2.2.4 INA253
      5. 2.2.5 TIOL111
    3. 2.3 システム設計理論
      1. 2.3.1 IO-Link PHY
      2. 2.3.2 電流シンク
      3. 2.3.3 L+ 用電源
      4. 2.3.4 電源
      5. 2.3.5 ピン配置
    4. 2.4 ソフトウェア フレーム ハンドラ
      1. 2.4.1 PRU-ICSS IO-Link フレーム ハンドラ
        1. 2.4.1.1 性能上の利点およびメリット
        2. 2.4.1.2 動作原理
  9. 3ハードウェア、ソフトウェア、テスト要件、テスト結果
    1. 3.1 必要なハードウェアとソフトウェア
      1. 3.1.1 ハードウェア
      2. 3.1.2 ソフトウェア
    2. 3.2 テストと結果
      1. 3.2.1 テスト設定
      2. 3.2.2 テスト結果
        1. 3.2.2.1 IO-Link のウェークアップ パルス
        2. 3.2.2.2 L+ ターンオン動作
        3. 3.2.2.3 CQ の電流シンク
        4. 3.2.2.4 残留電圧
        5. 3.2.2.5 IO-Link 物理層テストの要約
        6. 3.2.2.6 各ポートの電流センス
        7. 3.2.2.7 TPS4H160 の熱動作
  10. 4デザイン ファイル
    1. 4.1 回路図
    2. 4.2 部品表
    3. 4.3 PCB レイアウトに関する推奨事項
      1. 4.3.1 レイアウト プリント
    4. 4.4 Altium プロジェクト
    5. 4.5 ガーバー ファイル
    6. 4.6 アセンブリの図面
  11. 5ソフトウェア ファイル
  12. 6関連資料
    1. 6.1 商標
  13. 7著者について
  14. 8改訂履歴

3.2.2.5 IO-Link 物理層テストの要約

表 3-1 に、すべての物理層テストの概要と結果を示します。

表 3-1 IO-Link® 物理層テスト
ID名称構成仕様 (条項)コメント結果
SDCI_TC_0001TCM_PHYL_INTF_ISMマスタ ポートの供給電流が監視されます。IO-Link インターフェイスおよびシステム仕様書 V1.1.22のセクション 5.3.2.3、表 6 を参照してください200mA でテスト20V：合格
30V：合格
SDCI_TC_0002TCM_PHYL_INTF_ISIRMマスタ ポートの供給電流が監視されます。500mA でテスト20V：合格
30V：合格
SDCI_TC_0003TCM_PHYL_INTF_ILLMマスタ ポートの C/Q での入力電流が監視されます。ILLM (VIM = 5V、VSM = 20V)：9.77mA 合格
ILLM (VIM = 5.1V、VSM = 20V)：9.77mA 合格
ILLM (VIM = 15V、VSM = 20V)：10.04mA 合格
ILLM (VIM = VSM = 20V)：10.17mA 合格
ILLM (VIM = 5V、VSM = 30V)：9.77mA 合格
ILLM (VIM = 5.1V、VSM = 30V)：9.77mA 合格
ILLM (VIM = 15V、VSM = 30V)：10.04mA 合格
ILLM (VIM = VSM = 30V)：10.43mA 合格
SDCI_TC_0004TCM_PHYL_INTF_VREShighマスタ C/Q 出力の出力レベルを測定します。VRQHM (VSM = 20V)：1.003V
VRQHM (VSM = 30V)：1.002V
合格
SDCI_TC_0005TCM_PHYL_INTF_VRESLOWマスタ C/Q 出力の出力レベルを測定します。VRQLM (VSM = 20V)：0.984V
VRQLM (VSM = 30V)：0.983V
合格
SDCI_TC_0006TCM_PHYL_INTF_VTHHMC/Q 入力のデジタル入力信号が監視されますIO-Link インターフェイスおよびシステム仕様書 V1.1.22のセクション 5.3.2.2、表 5 を参照してくださいVIM@VTHHM (VSM = 20V)：11.47V
VIM@VTHHM (VSM = 30V)：11.47V
合格
SDCI_TC_0007TCM_PHYL_INTF_VTHLMC/Q 入力のデジタル入力信号が監視されますVIM@VTHLM (VSM = 20V)：10.75V
VIM@VTHLM (VSM = 30V)：10.75V
合格
SDCI_TC_0008TCM_PHYL_INTF_VHYSMSDCI_TC_0006 と SDCI_TC_0007 の値の比較VHYSM (VSM = 20V)：0.72V
VHYSM (VSM = 30V)：0.72V
合格
SDCI_TC_0009TCM_PHYL_INTF_IQPKHMマスタ C/Q 出力の出力レベルを測定します。VIM (VSM = 20 V)：17.4V
VIM (VSM = 30V) ：26.4V
合格
SDCI_TC_0010TCM_PHYL_INTF_IQPKLMマスタ C/Q 出力の出力レベルを測定します。IO-Link インターフェイスおよびシステム仕様書 V1.1.22のセクション 5.3.2.3、表 6 を参照してくださいVIM (VSM = 20 V)：2.2V
VIM (VSM = 30V) ：2.2V
合格
SDCI_TC_0299TCM_PHYL_INTF_VOLTRANGECQCQ を 1Ω 経由で 0V および 30V に接続した後で動作するかどうかをテストしますIO-Link インターフェイスおよびシステム仕様書 V1.1.22のセクション 5.3.2.2、表 5 - VIL および VIH を参照してください合格
SDCI_TC_0021TCM_PHYL_INTF_IQWUHIO-Link インターフェイスおよびシステム仕様書 V1.1.22のセクション 5.3.3.3、表 9 を参照してくださいファンクション ジェネレータからのウェークアップ パルスVIM@WURQ (VSM = 20V)：17.3V
VIM@WURQ (VSM = 30V)：26.2V
合格
SDCI_TC_0022TCM_PHYL_INTF_TWUHファンクション ジェネレータからのウェークアップ パルスTWUH@WURQ (VSM = 20V)：80µs
TWUH@WURQ (VSM = 30V)：80µs
合格
SDCI_TC_0023TCM_PHYL_INTF_IQWULファンクション ジェネレータからのウェークアップ パルスVIM@WURQ (VSM = 20V)：2V
VIM@WURQ (VSM = 30V)：2.5V
合格
SDCI_TC_0024TCM_PHYL_INTF_TWULファンクション ジェネレータからのウェークアップ パルスTWUL@WURQ (VSM = 20V)：80µs
TWUL@WURQ (VSM = 30V)：80µs
合格