JAJU847B april   2021  – april 2023

 

  1.   概要
  2.   リソース
  3.   特長
  4.   アプリケーション
  5.   5
  6. 1システムの説明
  7. 2システム概要
    1. 2.1 ブロック図
    2. 2.2 設計上の考慮事項
    3. 2.3 主な使用製品
      1. 2.3.1 LMG342xR030
      2. 2.3.2 TMS320F28002x
      3. 2.3.3 OPA607
      4. 2.3.4 UCC21222
  8. 3ハードウェアのテスト要件とテスト結果
    1. 3.1 ハードウェア要件
    2. 3.2 テスト構成
    3. 3.3 テスト結果
      1. 3.3.1 テスト手順
      2. 3.3.2 性能データ:効率、iTHD、力率
      3. 3.3.3 機能波形
        1. 3.3.3.1 電流検出と保護
        2. 3.3.3.2 電力段のスタートアップ波形と入力波形
        3. 3.3.3.3 AC 電圧降下テスト
        4. 3.3.3.4 サージ・テスト
        5. 3.3.3.5 EMI テスト
      4. 3.3.4 温度テスト
      5. 3.3.5 GaN FET のスイッチング波形
  9. 4設計とドキュメントのサポート
    1. 4.1 設計ファイル
      1. 4.1.1 回路図
      2. 4.1.2 BOM
    2. 4.2 ドキュメントのサポート
    3. 4.3 サポート・リソース
    4. 4.4 商標
  10. 5著者について
  11. 6改訂履歴

ブロック図

図 2-1 に、この設計のブロック図と主なテキサス・インスツルメンツ部品を示します。

GUID-20210309-CA0I-V30S-XFXS-RTS2Q952GQGS-low.gif図 2-1 システム・ブロック図

このガイドに記載されているリファレンス・デザインの動作を実現するため、以下の EVM が使用されます。

  1. F280049C controlCARD の評価基板: TMDSCNCD280049C
  2. LMG342x GaN EVM ボード: LMG3422EVM-043