DAC3154EVM DAC3154 zweikanaliger Digital-Analog-Wandler, 10 Bit, 500 GSPS – Evaluierungsmodul angled board image

DAC3154EVM

DAC3154 zweikanaliger Digital-Analog-Wandler, 10 Bit, 500 GSPS – Evaluierungsmodul

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Merkmale von DAC3154EVM

  • Umfassende Prüfmöglichkeit für den DAC3154 für IF- und HF-Ausgänge
  • Direkter Anschluss an den Signalgenerator TSW1400
  • Enthält den CDCE62005 zur Takterzeugung oder Jitter-Bereinigung
  • Enthält den TRF3705 zur vollständigen Senderevaluierung
  • Softwareunterstützung mit voll ausgestatteter GUI für einfache Tests
  • Direkte HSMC-Verbindung zu Altera FPGA-Entwicklungskits
  • FMC-DAC-Adapterkarte zum Anschluss an einen Standard-FMC-Verbindungsheader, ein typischer Eingang für die neuesten FPGA-EVMs von Xilinx

Beschreibung von DAC3154EVM

Das DAC3154EVM ist eine Platine, mit der Entwickler die Leistung des zweikanaligen 10-bit-Digital-zu-Analog-Wandlers (DAC) DAC3154 mit 500 MSPS von Texas Instruments evaluieren können. Das EVM bietet eine flexible Umgebung zum Testen des DAC3154 unter verschiedenen Takt- und Eingangsbedingungen. Zur einfacheren Handhabung als vollständige HF-Sendelösung enthält der DAC3154EVM den CDCE62005-Taktgenerator/Jitter Cleaner zur Taktung des DAC3154 sowie einen TRF3705-, einen 400MHz- bis 4GHz-Quadratur-Modulator, Zum Upkonvertieren von I/Q-Ausgängen vom DAC in reale Signale bei RF.

das EVM kann zusammen mit TSW1400 verwendet werden, um eine Vielzahl von Testverfahren durchzuführen. Der TSW1400 erzeugt die Testmuster, die über einen LVDS-Port mit 1,00 GSPS an den DAC3154 eingespeist werden. Der DAC3154EVM-Takt-Chip kann verwendet werden, um die TSW1400-Platine mit dem DAC3154EVM zu synchronisieren. Der TSW1406EVM bietet eine kostengünstige Lösung für schnelle EVM-Tests mit einer Probenmustertiefe von bis zu 64k.

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