Merkmale von DAC5681ZEVM
- Umfassende Testfähigkeit für DAC5681Z
- Direkte Verbindung zum TSW3100-Signalgenerator-EVM
- Verfügt über einen programmierbaren jitterarmen Taktsynthesizer, der mit einem VCXO oder einer externen Taktquelle arbeiten kann
- Taktsynchronisation mit TSW3100 für Signalintegrität
- Softwareunterstützung mit einer voll ausgestatteten GUI für einfaches Testen
Beschreibung von DAC5681ZEVM
Die DAC5681ZEVM ist eine Leiterplatte, mit der Entwickler die Leistung des einkanaligen 16-Bit-Digital-Analog-Wandlers (DAC) mit 1,0 GSPS von Texas Instruments evaluieren können. Der DAC verfügt über eine LVDS-Schnittstelle mit 1 GSPS, integrierte 2x/4x Interpolationsfilter, einen integrierten Taktmultiplikator sowie eine interne Spannungsreferenz. Das EVM bietet eine flexible Umgebung zum Testen des DAC5681Z unter verschiedenen Takt- und Eingangsbedingungen.
Es kann zusammen mit dem TSW3100 zur Durchführung einer Vielzahl von Testverfahren verwendet werden. Der TSW3100 erzeugt die Testmuster, die über einen LVDS-Port mit 1,00 GSPS an die DAC5681ZEVM eingespeist werden. Die DAC5681ZEVM verfügt über einen programmierbaren Takt-Chip, mit welchem die TSW3100-Platine mit dem DAC5681ZEVM synchronisiert werden kann.