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SN74LV4051A-EP

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エンハンスド製品、8 チャネル、アナログ・マルチプレクサ / デマルチプレクサ

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製品詳細

Configuration 8:1 Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 1.8, 2.5, 3.3, 5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 22 CON (typ) (pF) 23.4 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Bandwidth (MHz) 35 Operating temperature range (°C) -40 to 105 Input/output continuous current (max) (mA) 25 Rating HiRel Enhanced Product Drain supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (max) (V) 5.5
Configuration 8:1 Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 1.8, 2.5, 3.3, 5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 22 CON (typ) (pF) 23.4 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Bandwidth (MHz) 35 Operating temperature range (°C) -40 to 105 Input/output continuous current (max) (mA) 25 Rating HiRel Enhanced Product Drain supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (max) (V) 5.5
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –40°C to 105°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Support Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports
  • High On-Off Output-Voltage Ratio
  • Low Crosstalk Between Switches
  • Individual Switch Controls
  • Extremely Low Input Current
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –40°C to 105°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Support Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports
  • High On-Off Output-Voltage Ratio
  • Low Crosstalk Between Switches
  • Individual Switch Controls
  • Extremely Low Input Current
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This 8-channel CMOS analog multiplexer/demultiplexer is designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LV4051A handles both analog and digital signals. Each channel permits signals with amplitudes up to 5.5 V (peak) to be transmitted in either direction.

Applications include signal gating, chopping, modulation or demodulation (modem), and signal multiplexing for analog-to-digital and digital-to-analog conversion systems.

This 8-channel CMOS analog multiplexer/demultiplexer is designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LV4051A handles both analog and digital signals. Each channel permits signals with amplitudes up to 5.5 V (peak) to be transmitted in either direction.

Applications include signal gating, chopping, modulation or demodulation (modem), and signal multiplexing for analog-to-digital and digital-to-analog conversion systems.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74LV4051A-EP データシート (Rev. D) 2004年 5月 11日
* VID SN74LV4051A-EP VID V6203664 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Selecting the Correct Texas Instruments Signal Switch (Rev. E) PDF | HTML 2022年 6月 2日
アプリケーション・ノート Multiplexers and Signal Switches Glossary (Rev. B) PDF | HTML 2021年 12月 1日

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TSSOP (PW) 16 オプションの表示
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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サポートとトレーニング

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