光学検査

ブロック図

概要

TI の IC とリファレンス・デザインは、高速センシングやアクチュエータとの低レイテンシ通信を実施する、高速かつ高精度の光学検査システムの設計と製作に役立ちます。

設計要件

光学検査システムの一般的な要件:

  • アクチュエータ向けの高精度ドライバ。
  • 高速センシング・ソリューション。
  • 高耐久性で低レイテンシの通信。

ブロック図

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技術資料

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