半導体製造

Test and measurement semiconductor manufacturing integrated circuits and reference designs

TI の IC とリファレンス・デザインは、高精度のプロセス制御と品質管理を想定した高精度半導体製造装置の設計に貢献します。

新世代の半導体製造装置の要件：

タイトル	種類	サイズ (KB)	日付
Clocking Optimization for RF Sampling Analog-to-Digital Converters (Rev. A)	PDF	697 KB	07 Apr 2021
Powering Noise Sensitive ADC Supplies with the TPS6291x Micro Noise Buck Convert	PDF	2.75 MB	30 Sep 2020
66AK2L06 JESD Attach to ADC12J4000/DAC38J84 Getting Started Guide (Rev. B)	PDF	8.6 MB	20 Jun 2016
Principles of Data Acquisition and Conversion (Rev. A)	PDF	132 KB	16 Apr 2015

タイトル	種類	サイズ (MB)	日付
Accounting for delay from multiple sources in delta-sigma ADCs (Rev. A)	PDF	688 KB	01 Feb 2018
Voltage-reference impact on total harmonic distortion	PDF	3.07 MB	01 Aug 2016
Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs	PDF	2.13 MB	31 Mar 2016

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