ソース・メジャー・ユニット(SMU)

Test & measurement Source Measurement Unit (SMU) integrated circuits and reference designs

設計上の考慮事項

TI の IC とリファレンス・デザインは、半導体および他の機器の高精度テストと特性評価に使用する高精度ソース測定ユニット (source measurement units、SMU) の製作に貢献します。

次世代ソース測定ユニットの要件:

  • 高電圧での電流の生成能力と測定能力。
  • ダイナミック・レンジが広く、精度の高い制御機能と測定機能。
  • パラメータの調整とエージェントの使用状況の監視に使用する直観的なインターフェイス。
  • デバイスの自己発熱を防止するパルス・モードのサポート。
View more

技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (5)

タイトル 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 593 KB 08 Feb 2022
PDF 476 KB 28 Jan 2021
PDF 2.75 MB 30 Sep 2020
PDF 78 KB 14 Jun 2017
PDF 132 KB 16 Apr 2015

製品カタログ/ホワイト・ペーパー

ホワイト・ペーパー (5)

タイトル 種類 サイズ (MB) 日付 英語版
PDF 688 KB 01 Feb 2018
PDF 1.57 MB 10 Feb 2017
PDF 149 KB 08 Nov 2016
PDF 3.07 MB 01 Aug 2016
PDF 2.13 MB 31 Mar 2016

技術記事

サポートとトレーニング

TI E2E™ Forums (英語) では、TI のエンジニアからの技術サポートが活用できます

技術的な質問と回答を豊富に掲載している TI の包括的なオンライン・ナレッジ・ベースは 24 時間 365 日ご利用になれます。

TI のエキスパートによる回答の検索

コミュニティ内のコンテンツは、個別の TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。
使用条件をご確認ください

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI のサポート・ページをご覧ください