ソース・メジャー・ユニット（SMU）

Test & measurement Source Measurement Unit (SMU) integrated circuits and reference designs

TI の IC とリファレンス・デザインは、半導体および他の機器の高精度テストと特性評価に使用する高精度ソース測定ユニット (source measurement units、SMU) の製作に貢献します。

次世代ソース測定ユニットの要件：

タイトル	種類	サイズ (KB)	日付
MUX 対応高精度オペアンプ (Rev. C)	PDF	593 KB	08 Feb 2022
ゼロドリフト・アンプ：特長と利点 (Rev. C)	PDF	476 KB	28 Jan 2021
Powering Noise Sensitive ADC Supplies with the TPS6291x Micro Noise Buck Convert	PDF	2.75 MB	30 Sep 2020
Improving Resolution of SAR ADC	PDF	78 KB	14 Jun 2017
Principles of Data Acquisition and Conversion (Rev. A)	PDF	132 KB	16 Apr 2015

タイトル	種類	サイズ (MB)	日付
Accounting for delay from multiple sources in delta-sigma ADCs (Rev. A)	PDF	688 KB	01 Feb 2018
	PDF	1.57 MB	10 Feb 2017
Enabling Faster, Smarter and Robust Solutions for TI SAR ADCs With multiSPI	PDF	149 KB	08 Nov 2016
Voltage-reference impact on total harmonic distortion	PDF	3.07 MB	01 Aug 2016
Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs	PDF	2.13 MB	31 Mar 2016

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