封装信息
| 封装 | 引脚 TSSOP (PW) | 8 |
| 工作温度范围 (°C) -50 to 150 |
| 包装数量 | 包装 150 | TUBE |
LM57-Q1 的特性
- 符合汽车级应用要求。关于商用器件，请参见 数据表
- 具有符合 AEC-Q100 的下列结果：
- 温度 0 级扩展：−50°C 至 +160°C 的工作温度范围，甚至可高达 170°C
- 温度 0 级：-50°C 至 +150°C 的工作温度范围
- 温度 1 级：-50°C 至 +125°C 的工作温度范围
- 人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 组件分类等级 2
- 充电器件模型 (CDM) ESD 组件分类等级 C5
- 可通过外部电阻在 −40°C 至 +150°C 温度范围内设置跳变温度，
精度为 ±2.3°C - 电阻容差不会引入误差
- 推挽和开漏开关输出
- 宽工作温度范围：−50°C 至 160°C
- 超线性模拟 VTEMP 温度传感器输出，−50°C 至 +150°C 温度范围内的精度为
±1.3°C - 具有短路保护的模拟和数字输出
- 数字输出具有锁存功能
- TRIP-TEST 引脚支持系统内测试
- 低功耗特性最大程度减少自发热，使其低于 0.02°C
应用范围
- 汽车用
- 井下设备和航空电子设备
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LM57-Q1 的说明
LM57-Q1 器件是一款具有模拟温度传感器输出的精密双路输出温度开关，适用于宽温度范围的应用（例如汽车级）。 跳变温度 (TTRIP) 可从 –40°C 至 160°CVTEMP 是 AB 类模拟电压输出，该电压输出与温度成正比，负温度系数 (NTC) 可编程。 两个外部 1% 电阻设置 TTRIP 和 VTEMP 斜率。 数字和模拟输出具有保护功能，并且可监视系统过热事件。
内置的热滞后功能 (THYST) 可防止数字输出发生振荡。 TOVER 和 TOVER 数字输出将在芯片温度超过 TTRIP 时置为有效，在芯片温度低于 TTRIP 与 THYST 的差值时置为无效。
TOVER 为高电平有效，并且采用推挽结构。 TOVER 为低电平有效，并且采用开漏结构。 将 TOVER 与 TRIP-TEST 相连，可在输出发生跳变后将其锁存。 将 TRIP-TEST 强制为低电平可将输出清零。 将 TRIP-TEST 驱动为高电平会将数字输出置为有效。 处理器可检查 TOVER 或 TOVER 的状态，从而确认它们是否已切换至激活状态。 这样一来，便可以在系统装配后现场验证比较器和输出电路的功能。 当 TRIP-TEST 为高电平时，VTEMP 引脚为跳变基准电压。 系统随后可使用该电压计算 LM57-Q1 的阈值。