In diesem Benutzerhandbuch skizzieren wir das Evaluierungsmodul (EVM) TMUX73XXF und die Anwendungen, für die es konzipiert wurde. Diese Platine erleichtert das schnelle Prototyping und die DC- Charakterisierung der Bauteile der Serie TMUX73XXF von Texas Instruments im TSSOP (PW)-Gehäuse. Darüber hinaus verfügt die Platine über integrierte Prüfpunkte, welche die nötige Flexibilität zum Testen verschiedener Signale bieten.
Merkmale
- Ein Pad für TMUX73XXF-Bausteine im 16- und 20-poligen PW-Gehäuse
- 16 generische 6-polige Stiftleisten für Strom, analoge oder digitale Signale, die geschaltet werden, und Steuersignale
- Das EVM umfasst spezifische LED-Schaltkreise zur Fehleranzeige