TPD3S716-Q1EVM enthält vier TPD3S716-Q1-Bausteine. Ein TPD3S716-Q1 (U1) ist mit zwei USB-2.0-Type-A-Anschlüssen (USB1 und USB2) zur Erfassung von Tests auf Systemebene konfiguriert. Ein TPD3S716-Q1 (U2) ist mit vier SMA-Anschlüssen (S1–S4) konfiguriert, um eine 4-Port-Analyse mit einem Vektornetzwerkanalysator zu ermöglichen. Ein TPD3S716-Q1 (U3) ist mit Prüfpunkten konfiguriert, um ESD an die Schutz-Pins auszulösen. U3 ist auch für die Erfassung von Klemmwellenformen während eines ESD-Tests über J3 mit einem Oszilloskop konfiguriert. Ein TPD3S716-Q1 (U4) verfügt über eine Pinbelegung für Tests auf Bausteinebene.
Merkmale
- Konformitätstests gemäß IEC 61000-4-2
- 4-Port-S-Parameter-Analyse
- USB-2.0-Durchsatzanalyse
- Klemmwellenformen durch elektrostatische Entladung (ESD) bei einem ESD-Ereignis