TPD1S514-1EVM
TPD1S514-1EVM USB 充電器過電圧サージおよび ESD 保護評価基板
TPD1S514-1EVM
概要
テキサス インスツルメンツの TPD1S514 評価基板は TPD1S514 デバイスの動作と性能の評価に役立ちます。TPD1S514 は USB コネクタの VBUS ライン保護用のシングルチップ ソリューションです。双方向の nFET スイッチにより、充電モードとホストモードの両方で安全な電流が保証されると同時に、VBUS_CON ピンのいずれかの過電圧状態から内部システム回路を保護します。VBUS_CON ピンでは、このデバイスは、最大 30V の過電圧保護を備えています。EN ピンが Low に切り替わると、TPD1S514 は 21ms 待機してから、スタートアップ遅延で nFET をオンにします。VBUS_POWER ピンは、nFET が完全にオンになっていることを示します。
特長
- 評価用に 2 個の TPD1S514 を搭載しています
- USB 2.0 スループット チャネルを搭載しています
- ケルビン接続を搭載しており、デバイスの FET 全体で高精度の測定を実現します
USB ポート保護 IC
購入と開発の開始
評価ボード
TPD1S514-1EVM — TPD1S514-1EVM：USB チャージャ、過電圧、サージ、および ESD 保護、VBUS_CON Pin 用
TPD1S514-1EVM — TPD1S514-1EVM：USB チャージャ、過電圧、サージ、および ESD 保護、VBUS_CON Pin 用
技術資料
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| 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | EVM ユーザー ガイド (英語) | TPD1S514EVM (Rev. A) | 2014/05/07 | |||
| 証明書 | TPD1S514-1EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2019/01/02 |