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TPS259827LEVM

TPS259827L eFuse 평가 모듈

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개요

TPS259827LEVM은 TI의 TPS259827L eFuse의 레퍼런스 회로를 평가할 수 있습니다. TPS259827L 장치는 통합 3mΩ FET, 프로그래머블 저전압, 과전류, 돌입 전류 보호, 구성 가능한 자동 재시도 횟수 및 재시도 지연 기능을 지원하는 2.7V~24V, 15A eFuse입니다.

특징
  • 2.7~24V 작동 전압 범위
  • 온보드 점퍼를 사용하여 3A~15A 전류 제한 프로그래밍 가능
  • 구성 가능한 자동 재시도 횟수 및 재시도 지연 기능
  • 프로그래머블 출력 회전율 제어, UVLO
  • 전원 양호 LED 상태 표시
eFuse(통합 핫 스왑)
TPS25982 — 핫 스왑 보호 기능이 있는 2.7V~24V, 2.7mΩ, 15A eFuse, ±1.5% 전류 모니터 및 조정 오류 관리
다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 비디오
중요 참고

TPS259827LEVM은 프로토타입 평가 모듈로, 수량이 한정되어 있습니다.

주문 및 개발 시작

평가 보드

TPS259827LEVM — TPS259827L eFuse evaluation module

지원되는 제품 및 하드웨어
재고 있음
제한:
TI.com에 재고 없음
TI.com에서 구매할 수 없음

TPS259827LEVM — TPS259827L eFuse evaluation module

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출시 날짜:
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기술 자료

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2개 모두 보기
유형 직함 최신 영어 버전 다운로드 날짜
* EVM User's guide TPS259827LEVM: Evaluation Module for TPS259827L eFuse (Rev. A) 2019. 5. 17
인증서 TPS259827LEVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2019. 4. 11

관련 설계 리소스

하드웨어 개발

평가 보드
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지원 및 교육

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