TI Precision Labs 研討會

放大器基礎與規格

本研討會 為因 Vos、Ib 和溫度漂移所產生錯誤的相關預測提供指導，並說明其內部來源。也包含動態 行為的概覽，如 Iq、電壓轉換速率和頻寬，然後就 資料規格表的參數規格進行討論。

DAC 和 ADC 基礎

本次研討會 將介紹字串、R-2R 和倍頻 DAC  架構，以及 delta-sigma 與 SAR ADC 架構的重要屬性。內容涵蓋  DAC 與 ADC  轉換函數的推導，並以 轉換函數誤差來源的概述總結，其中包括增益誤差、偏移誤差、零程式碼 誤差及全刻度誤差。

儀器 放大器、差動放大器與比較器

本次研討會 主要探討儀器放大器 (INA) 的誤差來源，其中包括 Vos 、IB、增益誤差及溫度漂移。也涵蓋動態性能層面，例如 電壓和電流回饋 INA 的頻寬和電壓轉換速率。 此外，本次研討會將示範使用軟體工具驗證輸入共模 ，並討論 比較器的誤差來源和限制。

DAC 和 ADC 類比行為的重要層面

此研討會內容包含  DAC 線性誤差與 TUE，以及緩衝輸出 DAC 的動態行為、輸出突波及 輸出負載電流功能。此外也說明 如何為無緩衝 DAC 選擇輸出緩衝器。研討會的 ADC 部分 包含 ADC DC 與 AC 規格概覽，並以單端與差動 ADC，以及單極與 雙極 ADC 的討論 作為結尾。

深入瞭解 DAC 動態輸出行為

本次研討會著重於 轉譯 DAC 輸出負載圖，以及瞭解空餘空間需求。 此外也涵蓋進階 DAC 動態行為，其中包括雜訊來源、安定 時間、電壓轉換速率管控和輸出突波。此外，本次研討會 會透過 DAC11001 實驗室量測，示範這些動態行為如何促成失真 (THD + N) 。

放大器輸入電壓雜訊、輸入電流雜訊及濾波技術

本次研討會將探索 常見的雜訊來源和濾波技術，其中包含計算、 模擬和理論。包括透過計算與 模擬以預測放大器與電阻雜訊 ，並定義雜訊增益、雜訊頻寬、 電流與電壓雜訊頻譜密度和總 RMS 雜訊。研討會 也將說明閃爍及寬頻 雜訊，並比較實際測量結果與計算結果。

了解 ADC 雜訊

本課程提供 訊號鏈雜訊分析與計算的概覽。與會者將深入了解類比轉數位轉換器 (ADC)、放大器和電壓參考如何影響一般 資料擷取系統中的整體雜訊。本課程旨在為參與者提供評估這些 組件對系統雜 訊性能的綜合影響的工具 。涵蓋的主題包括 ADC 中存在的各種雜訊類型、用於測量雜訊的方法和參數、有效的雜訊頻寬 計算、為何更多增益無法一律降低雜訊，以及參考雜訊對總訊號鏈雜訊的影響。

放大器電路穩定性分析及補償機制

本次研討會內容涵蓋 提升電路穩定性的設計技術，針對如驅動 電容性負載或運算放大器反相節點的過多電容等問題 說明，這些狀況可能導致 振盪現象。本簡報示範如何利用模擬預測 放大器穩定性，並討論修正 穩定性問題的方法。