4 Revision History
Changes from Revision H (March 2023) to Revision I (August 2023)
- Updated Thermal Characteristics, Safety Limiting Values, and Thermal
Derating Curves to provide more accurate system-level thermal
calculationsGo
- Updated electrical and switching characteristics to match device
performanceGo
Changes from Revision G (March 2020) to Revision H (March 2023)
- ドキュメント全体を通して、標準名を「DIN V VDE V 0884-11:2017-01」から「DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)」に変更Go
- ドキュメント全体を通して、IEC/EN/CSA 60950-1 規格への参照を削除Go
- ドキュメント全体を通して、すべての標準名から標準リビジョンおよび年への参照を削除Go
- Added Maximum impulse voltage (VIMP) specification per DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)Go
- Changed test conditions and values of Maximum surge isolation voltage (VIOSM) specification per DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)Go
- Clarified method b test conditions of Apparent charge (qPD)Go
- Changed values of Maximum surge isolation voltage (VIOSM) specification per DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)Go
Changes from Revision F (May 2019) to Revision G (March 2020)
- 基本絶縁のみを必要とするアプリケーション用に、このデータシートに ISO7731B デバイスを追加ISO7731B の以前のデータシート文書番号は SLLSF65AGo
- ドキュメント全体を通して、VDE 標準名を「DIN V VDE V 0884-11:2017-01」から「DIN VDE V 0884-11:2017-01」に変更Go
- 「セクション 1」において、UL 認定の箇条書き項目を「UL 1577 準拠の 5000VRMS (DW) および 3000VRMS (DBQ) 絶縁定格」から「UL 1577 部品認定プログラム」に変更Go
- CSA、CQC、TUV セクション 1 の箇条書き項目を 1 つの項目に結合Go
- 「セクション 1」の「すべて認定済み」の箇条書き項目を削除Go
- Updated table entriesGo
Changes from Revision E (January 2018) to Revision F (May 2019)
- ドキュメント全体を通して、編集およびレイアウトの変更を実施Go
- 以下のように変更:「絶縁バリアの寿命:40 年超」から「1500VRMS の動作電圧で 100 年を超える予測寿命」(セクション 1)Go
-
セクション 1 に「最大 5000VRMS の絶縁定格」を追加Go
-
セクション 1 に「最大 12.8kV のサージ耐量」を追加Go
-
セクション 1 に「絶縁バリアの両側で ±8kV の IEC 61000-4-2 接触放電保護」を追加Go
- 「車載用バージョンを利用可能:ISO773x-Q1」を追加 (セクション 1)
Go
- DBQ パッケージの UL 1577 絶縁定格の誤字を以下のように変更:「2500VRMS」から「3000VRMS」に変更 (セクション 1)Go
- 以下のように変更:「DBQ-16 パッケージ・デバイスの CQC 承認を除き、すべての認証が完了」から「すべて認定済み」 (セクション 1)Go
-
図 3-1 を、単一の絶縁コンデンサの代わりに、チャネルごとに直列の 2 つの絶縁コンデンサを示すよう更新Go
- Added ±8000V contact dischargeGo
- Added table noteGo
- Updated valules for DW package and test conditionsGo
- Updated table entriesGo
- Changed ground symbols for "Input (Devices with F suffix)" in Section 8.4.1
Go
- Added 'How to use isolation to improve ESD, EFT, and Surge immunity in industrial systems' application report to Section 12.1 sectionGo
Changes from Revision D (May 2017) to Revision E (January 2018)
- ドキュメント全体を通して、DIN 認定番号と認定ステータスを変更Go
- DBQ パッケージの絶縁定格を 2500VRMS から 3000VRMS に変更Go
- Added VTEST conditions for VIOTM, updated DBQ package throughout the document, and updated method b1 conditionGo
Changes from Revision C (December 2016) to Revision D (May 2017)
- Updated table entriesGo
- Updated CMTI value from 40 to 85 in all Electrical Characteristics tablesGo
Changes from Revision B (October 2016) to Revision C (December 2016)
- Changed title of "Regulatory Information" to "Safety-Related Certifications" and updated certificationsGo
Changes from Revision A (September 2016) to Revision B (October 2016)
- 「特長」を以下のように変更: 「VDE および UL 認定…」から「VDE、UL、TUV 認定…」に変更Go
- Updated unit value of CLR to mmGo
- Updated all certifications marked as planned to certified and updated certificates and table descriptions Go
Changes from Revision * (September 2016) to Revision A (September 2016)
- Changed VI(HYS) MIN value in Electrical Characteristic tables throughout the documentGo
- Updated timing specs in Switching Characteristics tables throughout the documentGo
- Added Note B to Figure 7-3
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