JAJSGR7C October   2014  – September 2018 TMP302-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      トリップ・スレッショルド精度
  4. 改訂履歴
  5. デバイス比較表
  6. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  7. Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Typical Characteristics
  8. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 HYSTSET
    4. 8.4 Device Functional Modes
  9. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Configuring the TMP302-Q1
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curves
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 12.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 12.2 コミュニティ・リソース
    3. 12.3 商標
    4. 12.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 12.5 Glossary
  13. 13メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

改訂履歴

Changes from B Revision (July 2015) to C Revision

  • Changed the supply voltage maximum value from: 3.6 V to: 4 VGo
  • Changed the input pin supply voltage maximum value from: VS + 0.5 V to: VS + 0.3 and ≤ 4 VGo
  • Changed the output pin voltage maximum value from: 3.6 V to: 4 VGo
  • Added the specified temperature to the Recommended Operating Conditions table Go
  • Updated junction-to-ambient thermal resistance from 200 to 210.3 Go
  • Updated junction-to-case (top) thermal resistance from 73.7 to 105.0 Go
  • Updated junction-to-board thermal resistance from 34.4 to 87.5 Go
  • Updated junction-to-top characterization parameter from 3.1 to 6.1 Go
  • Updated junction-to-board characterization parameter from 34.2 to 87.0 Go
  • Changed the Design Requirements section Go
  • ドキュメントの更新通知を受け取る方法」セクションを追加Go

Changes from A Revision (November 2014) to B Revision

  • Changed the Handling Ratings table to ESD Ratings and moved storage temperature to the Absolute Maximum Ratings table Go

Changes from * Revision (October 2014) to A Revision

  • デバイスのステータスを製品プレビューから量産に変更Go