JAJSM04A june   2021  – march 2023 INA254

PRODUCTION DATA  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
  4. Revision History
  5. Device Comparison
  6. Pin Configuration and Functions
  7. 仕様
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Typical Characteristics
  8. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Integrated Shunt Resistor
      2. 8.3.2 Short-Circuit Duration
      3. 8.3.3 Temperature Stability
      4. 8.3.4 Enhanced PWM Rejection Operation
      5. 8.3.5 Input Signal Bandwidth
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Adjusting the Output Midpoint With the Reference Pins
      2. 8.4.2 Reference Pin Connections for Unidirectional Current Measurements
      3. 8.4.3 Ground Referenced Output
      4. 8.4.4 Reference Pin Connections for Bidirectional Current Measurements
        1. 8.4.4.1 Output Set to External Reference Voltage
      5. 8.4.5 Output Set to Mid-Supply Voltage
      6. 8.4.6 Output Set to Mid-External Reference
      7. 8.4.7 Output Set Using Resistor Divider
  9. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Input Filtering
    2. 9.2 Typical Applications
      1. 9.2.1 Speaker Enhancements and Diagnostics Using Current Sense Amplifier
        1. 9.2.1.1 Design Requirements
        2. 9.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 9.2.1.3 Application Curve
    3. 9.3 Power Supply Recommendations
    4. 9.4 Layout
      1. 9.4.1 Layout Guidelines
      2. 9.4.2 Layout Example
  10. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 Device Support
      1. 10.1.1 Development Support
    2. 10.2 Documentation Support
      1. 10.2.1 Related Documentation
    3. 10.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 Trademarks
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  11. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。