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SN54LS37

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Puertas NAND bipolares de calidad militar de 4 canales, 2 entradas, de 4.5 V a 5.5 V

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SN54LS37

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Detalles del producto

Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 1.2 IOH (max) (mA) -48 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 35 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 1.2 IOH (max) (mA) -48 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 35 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 CFP (W) 14 58.023 mm² 9.21 x 6.3 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • Package Options Include Plastic “Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 
  • Package Options Include Plastic “Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 

These devices contain four independent 2-input NAND buffer gates.

The SN5437, SN54LS37 and SN54S37 are characterized for operation over the full military range of -55°C to 125°C. The SN7437, SN74LS37 and SN74S37 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

These devices contain four independent 2-input NAND buffer gates.

The SN5437, SN54LS37 and SN54S37 are characterized for operation over the full military range of -55°C to 125°C. The SN7437, SN74LS37 and SN74S37 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet Quadruple 2-Input Positive-NAND Buffers datasheet 01 mar 1988
* SMD SN54LS37 SMD 5962-97541 21 jun 2016
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) 01 mar 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Paquete Pasadores Descargar
CDIP (J) 14 Ver opciones
CFP (W) 14 Ver opciones
LCCC (FK) 20 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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