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SN74AHCT1G02

ACTIVO

Puerta NOR simple de 2 entradas, 4.5 V a 5.5 V con entradas CMOS compatibles con TTL

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SN74AHCT1G02

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Detalles del producto

Technology family AHCT Number of channels 1 Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Output type Push-Pull Input type TTL-Compatible CMOS Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family AHCT Number of channels 1 Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Output type Push-Pull Input type TTL-Compatible CMOS Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Operating range of 4.5 V to 5.5 V
  • eMax tpd of 6.5 ns at 5 V
  • Low power consumption, 10-µA max ICC
  • ± 8-mA output drive at 5 V
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating range of 4.5 V to 5.5 V
  • eMax tpd of 6.5 ns at 5 V
  • Low power consumption, 10-µA max ICC
  • ± 8-mA output drive at 5 V
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

This device contains a single 2-input NOR gate that performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B positive logic.

This device contains a single 2-input NOR gate that performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B positive logic.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74AHCT1G02 Single 2-Input Positive-NOR Gate datasheet (Rev. M) PDF | HTML 01 feb 2024
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 26 jul 2021
Selection guide Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 06 jul 2018
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
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Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Product overview Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 04 nov 2004
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
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Application note Advanced High-Speed CMOS (AHC) Logic Family (Rev. C) 02 dic 2002
Application note Texas Instruments Little Logic Application Report 01 nov 2002
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Design guide AHC/AHCT Designer's Guide February 2000 (Rev. D) 24 feb 2000
Product overview Military Advanced High-Speed CMOS Logic (AHC/AHCT) (Rev. C) 01 abr 1998
Application note Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 01 dic 1997
Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 01 ago 1997
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación lógica genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV de 5 a 8 pines

Módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV en un recuento de 5 a 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74AHCT1G02 Behavioral SPICE Model

SCLM247.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Descargar
Modelo de simulación

SN74AHCT1G02 IBIS Model

SCLM012.ZIP (7 KB) - IBIS Model
Descargar
Paquete Pasadores Descargar
SOT-23 (DBV) 5 Ver opciones
SOT-SC70 (DCK) 5 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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