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SN74ALS35A

ACTIVO

Búferes bipolares de 6 canales, de 4.5 V a 5.5 V con salidas de colector abiertas

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SN74ALS35A

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Detalles del producto

Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 6 IOL (max) (mA) 8 Supply current (max) (µA) 6300 IOH (max) (mA) 0 Input type Bipolar Output type Open-collector Features Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 6 IOL (max) (mA) 8 Supply current (max) (µA) 6300 IOH (max) (mA) 0 Input type Bipolar Output type Open-collector Features Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Noninverter With Open-Collector Outputs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages and Standard Plastic (N) 300-mil DIPs

 
  • Noninverter With Open-Collector Outputs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages and Standard Plastic (N) 300-mil DIPs

 

The SN74ALS35A contains six independent noninverters with open-collector outputs. They perform the Boolean function Y = A. The open-collector outputs require pullup resistors to perform correctly. These outputs may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. Open-collector devices are often used to generate higher VOH levels.

The SN74ALS35A is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

The SN74ALS35A contains six independent noninverters with open-collector outputs. They perform the Boolean function Y = A. The open-collector outputs require pullup resistors to perform correctly. These outputs may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. Open-collector devices are often used to generate higher VOH levels.

The SN74ALS35A is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet Hex Noninverter With Open-Collector Outputs datasheet (Rev. C) 01 dic 1994
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 01 ago 1997
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Application note Advanced Schottky (ALS and AS) Logic Families 01 ago 1995

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74ALS35A Behavioral SPICE Model

SDAM062.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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