CY54FCT480T
- Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
- Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
- Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Matched Rise and Fall Times
- Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
- Two 8-Bit Parity Generators/Checkers
- Open-Drain Active-Low Parity-Error Output
- Expandable for Larger Word Widths
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- CY54FCT480T
- 32-mA Output Sink Current
- 12-mA Output Source Current
- CY74FCT480T
- 64-mA Output Sink Current
- 32-mA Output Source Current
The \x92FCT480T devices are high-speed, dual, 8-bit parity generators/checkers. Each parity generator/checker accepts eight data bits and one parity bit as inputs, and generates a sum and parity-error (ERROR\) output. These devices can be used in odd-parity systems. ERROR\ is an open-drain output designed for easy expansion of the word width by a wired-OR connection of several \x92FCT480T devices. Because no additional logic is needed, the parity-generation or parity-checking times remain the same as for an individual \x92FCT480T device.
These devices are fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | Dual 8-Bit Parity Generators/Checkers データシート (Rev. B) | 2001年 10月 24日 | |||
| セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
| セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
| ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) | 2004年 6月 22日 | ||||
| ユーザー・ガイド | CYFCT Parameter Measurement Information | 2001年 4月 2日 | ||||
| セレクション・ガイド | Advanced Bus Interface Logic Selection Guide | 2001年 1月 9日 |
設計と開発
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