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D/A コンバータ (DAC)
高精度 DAC（≤10 MSPS）

DAC8830-EP

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エンハンスド製品、16 ビット、超低消費電力、電圧出力 D/A コンバータ

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製品詳細

Resolution (Bits) 16 Number of DAC channels 1 Interface type SPI Output type Unbuffered Voltage Settling time (µs) 1 Reference type Ext Architecture R-2R Rating HiRel Enhanced Product Output range (max) (mA/V) 5.5 Output range (min) (mA/V) 0 Sample/update rate (Msps) 1 Power consumption (typ) (mW) 0.015 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Resolution (Bits) 16 Number of DAC channels 1 Interface type SPI Output type Unbuffered Voltage Settling time (µs) 1 Reference type Ext Architecture R-2R Rating HiRel Enhanced Product Output range (max) (mA/V) 5.5 Output range (min) (mA/V) 0 Sample/update rate (Msps) 1 Power consumption (typ) (mW) 0.015 Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 16-Bit Resolution
  • 2.7-V to 5.5-V Single-Supply Operation
  • Low Power: 15 µW for 3-V Power
  • High Accuracy, INL: 1 LSB
  • Low Glitch: 8 nV-s
  • Low Noise: 10 nV/Hz
  • Fast Settling: 1 µs
  • Fast SPI Interface Up to 50 MHz
  • Reset to Zero-Code
  • Schmitt-Trigger Inputs for Direct Optocoupler Interface
  • Industry-Standard Pin Configuration
  • APPLICATIONS
    • Portable Equipment
    • Automatic Test Equipment
    • Industrial Process Control
    • Data Acquisition Systems
    • Optical Networking

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

All trademarks are the property of their respective owners.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 16-Bit Resolution
  • 2.7-V to 5.5-V Single-Supply Operation
  • Low Power: 15 µW for 3-V Power
  • High Accuracy, INL: 1 LSB
  • Low Glitch: 8 nV-s
  • Low Noise: 10 nV/Hz
  • Fast Settling: 1 µs
  • Fast SPI Interface Up to 50 MHz
  • Reset to Zero-Code
  • Schmitt-Trigger Inputs for Direct Optocoupler Interface
  • Industry-Standard Pin Configuration
  • APPLICATIONS
    • Portable Equipment
    • Automatic Test Equipment
    • Industrial Process Control
    • Data Acquisition Systems
    • Optical Networking

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

All trademarks are the property of their respective owners.

The DAC8830 and DAC8831 are single, 16-bit, serial-input, voltage-output digital-to-analog converters (DACs) operating from a single 3-V to 5-V power supply. These converters provide excellent linearity, low glitch, low noise, and fast settling over the specified temperature range of -55°C to 125°C. The output is unbuffered, which reduces the power consumption and the error introduced by the buffer.

These parts feature a standard high-speed (clock up to 50 MHz), 3-V or 5-V SPI serial interface to communicate with the DSP or microprocessors.

The DAC8830 output is 0 V to VREF. However, the DAC8831 provides bipolar mode output (±VREF) when working with an external buffer. The DAC8830 and DAC8831 are both reset to zero-code after power up.

For optimum performance, a set of Kelvin connections to external reference and analog ground input are provided on the DAC8831.

The DAC8830 is available in an SO-8 package and the DAC8831 is available in an SO-14 package. Both have industry standard pinouts.

The DAC8830 and DAC8831 are single, 16-bit, serial-input, voltage-output digital-to-analog converters (DACs) operating from a single 3-V to 5-V power supply. These converters provide excellent linearity, low glitch, low noise, and fast settling over the specified temperature range of -55°C to 125°C. The output is unbuffered, which reduces the power consumption and the error introduced by the buffer.

These parts feature a standard high-speed (clock up to 50 MHz), 3-V or 5-V SPI serial interface to communicate with the DSP or microprocessors.

The DAC8830 output is 0 V to VREF. However, the DAC8831 provides bipolar mode output (±VREF) when working with an external buffer. The DAC8830 and DAC8831 are both reset to zero-code after power up.

For optimum performance, a set of Kelvin connections to external reference and analog ground input are provided on the DAC8831.

The DAC8830 is available in an SO-8 package and the DAC8831 is available in an SO-14 package. Both have industry standard pinouts.
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DAC8830 アクティブ 16 ビット、シングルチャネル、超低消費電力、電圧出力 DAC Industrial-grade device

技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート 16-Bit, Ultra-Low Power, Voltage-Output Digital-to-Analog Converters データシート (Rev. C) 2007年 4月 24日
* VID DAC8830-EP VID V6206671 2016年 6月 21日
* VID DAC8830-EP VID V6206671 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート DAC8830MCDREP Reliability Report 2016年 1月 6日
アプリケーション・ノート 高速データ変換 英語版 2009年 12月 11日
アプリケーション・ノート データ・コンバータのドリフトに関する設計者の必須知識: 最悪劣化度の構成要素を理解して仕様の条件を減らす 2009年 4月 22日

設計と開発

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ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
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パッケージ ピン数 ダウンロード
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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サポートとトレーニング

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