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SCAN926260

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IEEE 1149.1 対応、At-Speed BIST 対応、6 回路、1 入力 10 出力、バスの LVDS デシリアライザ

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製品詳細

Protocols Catalog Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Protocols Catalog Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
NFBGA (NZH) 196 225 mm² 15 x 15
  • Deserializes One to Six Bus LVDS Input Serial Data Streams with Embedded Clocks
  • IEEE 1149.1 (JTAG) Compliant and At-Speed BIST Test Modes
  • Parallel Clock Rate 16-66MHz
  • On Chip Filtering for PLL
  • High Impedance Inputs Upon Power Off (Vcc = 0V)
  • Single Power Supply at +3.3V
  • 196-Pin NFBGA Package (Low-Profile Ball Grid Array) Package
  • Industrial Temperature Range Operation: −40°C to +85°C
  • ROUTn[0:9] and RCLKn Default High when Channel is Not Locked
  • Powerdown Per Channel to Conserve Power on Unused Channels

All trademarks are the property of their respective owners.

  • Deserializes One to Six Bus LVDS Input Serial Data Streams with Embedded Clocks
  • IEEE 1149.1 (JTAG) Compliant and At-Speed BIST Test Modes
  • Parallel Clock Rate 16-66MHz
  • On Chip Filtering for PLL
  • High Impedance Inputs Upon Power Off (Vcc = 0V)
  • Single Power Supply at +3.3V
  • 196-Pin NFBGA Package (Low-Profile Ball Grid Array) Package
  • Industrial Temperature Range Operation: −40°C to +85°C
  • ROUTn[0:9] and RCLKn Default High when Channel is Not Locked
  • Powerdown Per Channel to Conserve Power on Unused Channels

All trademarks are the property of their respective owners.

The SCAN926260 integrates six 10-bit deserializer devices into a single chip. The SCAN926260 can simultaneously deserialize up to six data streams that have been serialized by TI’s 10-bit Bus LVDS serializers. In addition, the SCAN926260 is compliant with IEEE standard 1149.1 and also features an At-Speed Built-In Self Test (BIST). For more details, please see the sections titled IEEE 1149.1 Test Modes and BIST Alone Test Modes.

Each deserializer block in the SCAN926260 has it’s own powerdown pin (PWRDWN[n])and operates independently with its own clock recovery circuitry and lock-detect signaling. In addition, a master powerdown pin (MS_PWRDWN) which puts all the entire device into sleep mode is provided.

The SCAN926260 uses a single +3.3V power supply and consumes 1.2W at 3.3V with a PRBS-15 pattern on all channels at 660Mbps.

The SCAN926260 integrates six 10-bit deserializer devices into a single chip. The SCAN926260 can simultaneously deserialize up to six data streams that have been serialized by TI’s 10-bit Bus LVDS serializers. In addition, the SCAN926260 is compliant with IEEE standard 1149.1 and also features an At-Speed Built-In Self Test (BIST). For more details, please see the sections titled IEEE 1149.1 Test Modes and BIST Alone Test Modes.

Each deserializer block in the SCAN926260 has it’s own powerdown pin (PWRDWN[n])and operates independently with its own clock recovery circuitry and lock-detect signaling. In addition, a master powerdown pin (MS_PWRDWN) which puts all the entire device into sleep mode is provided.

The SCAN926260 uses a single +3.3V power supply and consumes 1.2W at 3.3V with a PRBS-15 pattern on all channels at 660Mbps.
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技術資料

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* データシート SCAN926260 Six 1-10 Bus LVDS Deserializers w/IEEE 1149.1 & At-Speed BIST データシート (Rev. H) 2013年 4月 17日

設計と開発

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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
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シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
オプションの表示
パッケージ ピン数 ダウンロード
NFBGA (NZH) 196 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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