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SN74ACT7806

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256 ｘ 18 非同期 FIFO メモリ

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製品詳細

Technology family ACT Rating Military Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family ACT Rating Military Operating temperature range (°C) 0 to 70
SSOP (DL) 56 190.647 mm² 18.42 x 10.35
  • Member of the Texas Instruments WidebusTM Family
  • Load Clock and Unload Clock Can Be Asynchronous or Coincident
  • 256 Words by 18 Bits
  • Low-Power Advanced CMOS Technology
  • Full, Empty, and Half-Full Flags
  • Programmable Almost-Full/Almost-Empty Flag
  • Fast Access Times of 15 ns With a 50-pF Load and All Data Outputs Switching Simultaneously
  • Data Rates up to 50 MHz
  • 3-State Outputs
  • Pin-to-Pin Compatible With SN74ACT7804 and SN74ACT7814
  • Packaged in Shrink Small-Outline 300-mil Package Using 25-mil Center-to-Center Spacing

    Widebus is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
  • Member of the Texas Instruments WidebusTM Family
  • Load Clock and Unload Clock Can Be Asynchronous or Coincident
  • 256 Words by 18 Bits
  • Low-Power Advanced CMOS Technology
  • Full, Empty, and Half-Full Flags
  • Programmable Almost-Full/Almost-Empty Flag
  • Fast Access Times of 15 ns With a 50-pF Load and All Data Outputs Switching Simultaneously
  • Data Rates up to 50 MHz
  • 3-State Outputs
  • Pin-to-Pin Compatible With SN74ACT7804 and SN74ACT7814
  • Packaged in Shrink Small-Outline 300-mil Package Using 25-mil Center-to-Center Spacing

    Widebus is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

A FIFO memory is a storage device that allows data to be written into and read from its array at independent data rates. The SN74ACT7806 is a 256-word by 18-bit FIFO for high speed and fast access times. It processes data at rates up to 50 MHz and access times of 15 ns in a bit-parallel format.

Data is written into memory on a low-to-high transition at the load clock (LDCK) input and is read out on a low-to-high transition at the unload clock (UNCK) input. The memory is full when the number of words clocked in exceeds the number of words clocked out by 256. When the memory is full, LDCK signals have no effect on the data residing in memory. When the memory is empty, UNCK signals have no effect.

Status of the FIFO memory is monitored by the full (FULL\), empty (EMPTY\), half-full (HF), and almost-full/almost-empty (AF/AE) flags. The FULL\ output is low when the memory is full and high when the memory is not full. The EMPTY\ output is low when the memory is empty and high when it is not empty. The HF output is high when the FIFO contains 128 or more words. The AF/AE status flag is a programmable flag. The first one or two low-to-high transitions of LDCK after reset are used to program the almost-empty offset value (X) and the almost-full offset value (Y) if program enable (PEN\) is low. The AF/AE flag is high when the FIFO contains X or fewer words or (256 - Y) or more words. The AF/AE flag is low when the FIFO contains between (X + 1) and (255 - Y) words.

A low level on the reset (RESET\) input resets the internal stack pointers and sets FULL\ high, HF low, and EMPTY\ low. The Q outputs are not reset to any specific logic level. The FIFO must be reset upon power up.The first word loaded into empty memory causes EMPTY\ to go high and the data to appear on the Q outputs. It is important to note that the first word does not have to be unloaded. The data outputs are noninverting with respect to the data inputs and are in the high-impedance state when the output-enable (OE\) input is high.

The SN74ACT7806 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

A FIFO memory is a storage device that allows data to be written into and read from its array at independent data rates. The SN74ACT7806 is a 256-word by 18-bit FIFO for high speed and fast access times. It processes data at rates up to 50 MHz and access times of 15 ns in a bit-parallel format.

Data is written into memory on a low-to-high transition at the load clock (LDCK) input and is read out on a low-to-high transition at the unload clock (UNCK) input. The memory is full when the number of words clocked in exceeds the number of words clocked out by 256. When the memory is full, LDCK signals have no effect on the data residing in memory. When the memory is empty, UNCK signals have no effect.

Status of the FIFO memory is monitored by the full (FULL\), empty (EMPTY\), half-full (HF), and almost-full/almost-empty (AF/AE) flags. The FULL\ output is low when the memory is full and high when the memory is not full. The EMPTY\ output is low when the memory is empty and high when it is not empty. The HF output is high when the FIFO contains 128 or more words. The AF/AE status flag is a programmable flag. The first one or two low-to-high transitions of LDCK after reset are used to program the almost-empty offset value (X) and the almost-full offset value (Y) if program enable (PEN\) is low. The AF/AE flag is high when the FIFO contains X or fewer words or (256 - Y) or more words. The AF/AE flag is low when the FIFO contains between (X + 1) and (255 - Y) words.

A low level on the reset (RESET\) input resets the internal stack pointers and sets FULL\ high, HF low, and EMPTY\ low. The Q outputs are not reset to any specific logic level. The FIFO must be reset upon power up.The first word loaded into empty memory causes EMPTY\ to go high and the data to appear on the Q outputs. It is important to note that the first word does not have to be unloaded. The data outputs are noninverting with respect to the data inputs and are in the high-impedance state when the output-enable (OE\) input is high.

The SN74ACT7806 is characterized for operation from 0°C to 70°C.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート 256 X 18 Strobed First-In, First-Out Memory データシート (Rev. C) 1998年 4月 1日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日
アプリケーション・ノート FIFO Memories: Solutions For Increasing Clock Rates And Data Widths (Rev. A) 1996年 3月 1日
アプリケーション・ノート Power-Dissipation Calculations for TI FIFO Products (Rev. A) 1996年 3月 1日

設計と開発

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  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
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