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SN74AHCT138-EP

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エンハンスド製品、3 ライン入力 8 ライン出力、デコーダ / デマルチプレクサ

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製品詳細

Technology family AHCT Number of channels 1 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product Supply current (max) (µA) 40
Technology family AHCT Number of channels 1 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product Supply current (max) (µA) 40
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • EPIC™ (Enhanced-Performance Implanted CMOS) Process
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Designed Specifically for High-Speed Memory Decoders and Data-Transmission Systems
  • Incorporates Three Enable Inputs to Simplify Cascading and/or Data Reception
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-833, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

EPIC is a trademark of Texas Instruments.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • EPIC™ (Enhanced-Performance Implanted CMOS) Process
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Designed Specifically for High-Speed Memory Decoders and Data-Transmission Systems
  • Incorporates Three Enable Inputs to Simplify Cascading and/or Data Reception
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-833, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

EPIC is a trademark of Texas Instruments.

The SN74AHCT138 3-line to 8-line decoder/demultiplexer is designed to be used in high-performance memory-decoding and data-routing applications that require very short propagation-delay times. In high-performance memory systems, this decoder can be used to minimize the effects of system decoding. When employed with high-speed memories utilizing a fast enable circuit, the delay times of this decoder and the enable time of the memory usually are less than the typical access time of the memory. This means that the effective system delay introduced by the decoder is negligible.

The conditions at the binary-select inputs and the three enable inputs select one of eight output lines. Two active-low and one active-high enable inputs reduce the need for external gates or inverters when expanding. A 24-line decoder can be implemented without external inverters and a 32-line decoder requires only one inverter. An enable input can be used as a data input for demultiplexing applications.

The SN74AHCT138 3-line to 8-line decoder/demultiplexer is designed to be used in high-performance memory-decoding and data-routing applications that require very short propagation-delay times. In high-performance memory systems, this decoder can be used to minimize the effects of system decoding. When employed with high-speed memories utilizing a fast enable circuit, the delay times of this decoder and the enable time of the memory usually are less than the typical access time of the memory. This means that the effective system delay introduced by the decoder is negligible.

The conditions at the binary-select inputs and the three enable inputs select one of eight output lines. Two active-low and one active-high enable inputs reduce the need for external gates or inverters when expanding. A 24-line decoder can be implemented without external inverters and a 32-line decoder requires only one inverter. An enable input can be used as a data input for demultiplexing applications.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74AHCT138-EP データシート 2003年 5月 2日
* VID SN74AHCT138-EP VID V6203655 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート SN74AHCT138MDREP Reliability Report 2013年 3月 22日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
製品概要 Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Advanced High-Speed CMOS (AHC) Logic Family (Rev. C) 2002年 12月 2日
アプリケーション・ノート Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
設計ガイド AHC/AHCT Designer's Guide February 2000 (Rev. D) 2000年 2月 24日
製品概要 Military Advanced High-Speed CMOS Logic (AHC/AHCT) (Rev. C) 1998年 4月 1日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (D) 16 オプションの表示
TSSOP (PW) 16 オプションの表示
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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