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SN74LV32A-EP

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エンハンスド製品、4 チャネル、2 入力、2V ～ 5.5V、高速 (7ns)、OR ゲート

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SN74LV32A-EP

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製品詳細

Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 50 IOH (max) (mA) -50 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 50 IOH (max) (mA) -50 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Max tpd of 7.5 ns at 5 V
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot) > 2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Supports Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified
performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Max tpd of 7.5 ns at 5 V
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot) > 2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Supports Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified
performance and environmental limits.

This quadruple 2-input positive-OR gate is designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LV32A-EP performs the Boolean function Y = A + B or Y = (A\ • B\)\ in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

This quadruple 2-input positive-OR gate is designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LV32A-EP performs the Boolean function Y = A + B or Y = (A\ • B\)\ in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74LV32A-EP データシート (Rev. B) 2006年 1月 3日
* VID SN74LV32A-EP VID V6204693 2016年 6月 21日

設計と開発

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TSSOP (PW) 14 オプションの表示
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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