データシート
SN74LV4052A-Q1
- Qualified for Automotive Applications
- AEC-Q100 Qualified With the Following Results:
- Device Temperature Grade 1: –40°C to +125°C
Ambient Operating Temperature Range - Device HBM ESD Classification Level 2
- Device CDM ESD Classification Level C4B
- Device Temperature Grade 1: –40°C to +125°C
- Supports Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports
- Fast Switching
- High On-Off Output-Voltage Ratio
- Low Crosstalk Between Switches
- Extremely Low Input Current
These dual 4-channel CMOS analog multiplexers and demultiplexers are designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.
The SN7LV4052A-Q1 devices handle both analog and digital signals. Each channel permits signals with amplitudes up to 5.5 V (peak).
Applications include signal gating, chopping, modulation or demodulation (modem), and signal multiplexing for analog-to-digital and digital-to-analog conversion systems.
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技術資料
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4 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | SN74LV4052A-Q1 Dual 4-Channel Analog Multiplexers and Demultiplexers データシート (Rev. F) | PDF | HTML | 2014年 12月 24日 | ||
アプリケーション・ノート | Selecting the Correct Texas Instruments Signal Switch (Rev. E) | PDF | HTML | 2022年 6月 2日 | |||
アプリケーション・ノート | Multiplexers and Signal Switches Glossary (Rev. B) | PDF | HTML | 2021年 12月 1日 | |||
その他の技術資料 | 車載用ロジック・デバイス | 英語版 | 2015年 2月 4日 |
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
インターフェイス・アダプタ
LEADED-ADAPTER1 — TI の 5、8、10、16、24 ピン・リード付きパッケージの迅速なテスト向けの表面実装から DIP ヘッダーへのアダプタ
EVM-LEADED1 ボードは、TI の一般的なリード付きパッケージによる迅速なテストとブレッド・ボードへの対応を可能にします。 TI の D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV、PW 表面実装パッケージを 100mil DIP ヘッダに変換するフットプリントを用意しています。
ユーザー ガイド: PDF
リファレンス・デザイン
TIDEP-01017 — TIDEP-01017
このリファレンス・デザインは、カスケード接続した画像処理レーダー・システムに関する処理の基礎を示します。カスケード接続した複数のレーダー・デバイスは、前方の長距離(LRR)ビーム成形アプリケーションに加えて、コーナーおよび側面のカスケード接続したレーダーやセンサ・フュージョン・システムにも対応できます。このリファレンス・デザインは、ADAS (...)
パッケージ | ピン数 | ダウンロード |
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SOIC (D) | 16 | オプションの表示 |
TSSOP (PW) | 16 | オプションの表示 |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 材質成分
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。