인터페이스 다이오드 ESD 보호 다이오드

SN75240

활성

듀얼 USB 포트 과도 억제기

제품 상세 정보

Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 60 Vrwm (V) 6 Bi-/uni-directional Uni-Directional Number of channels 4 IO capacitance (typ) (pF) 35 Breakdown voltage (min) (V) 7
Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 60 Vrwm (V) 6 Bi-/uni-directional Uni-Directional Number of channels 4 IO capacitance (typ) (pF) 35 Breakdown voltage (min) (V) 7
PDIP (P) 8 92.5083 mm² 9.81 x 9.43 TSSOP (PW) 8 19.2 mm² 3 x 6.4
  • Design to protect submicron 3-V or 5-V circuits from noise transients
  • Port ESD protection capability exceeds:
    • 15-kV human body model
    • 2-kV machine model
  • Available in a WCSP chip-scale package
  • Stand-off voltage: 6 V (minimum)
  • Low current leakage: 1-µA maximum at 6 V
  • Low capacitance: 35-pF (typical)
  • Design to protect submicron 3-V or 5-V circuits from noise transients
  • Port ESD protection capability exceeds:
    • 15-kV human body model
    • 2-kV machine model
  • Available in a WCSP chip-scale package
  • Stand-off voltage: 6 V (minimum)
  • Low current leakage: 1-µA maximum at 6 V
  • Low capacitance: 35-pF (typical)

The SN65220 device is a dual, and the SN65240 and SN75240 devices are quadruple, unidirectional transient voltage suppressors (TVS). These devices provide electrical noise transient protection to Universal Serial Bus (USB) low and full-speed ports. The input capacitance of 35 pF makes it unsuitable for high-speed USB 2.0 applications.

Any cabled I/O can be subjected to electrical noise transients from various sources. These noise transients can cause damage to the USB transceiver or the USB ASIC if they are of sufficient magnitude and duration.

The SN65220, SN65240, and SN75240 devices ESD performance is measured at the system level, according to IEC61000-4-2; system design, however, impacts the results of these tests. To accomplish a high compliance level, careful board design and layout techniques are required.

The SN65220 device is a dual, and the SN65240 and SN75240 devices are quadruple, unidirectional transient voltage suppressors (TVS). These devices provide electrical noise transient protection to Universal Serial Bus (USB) low and full-speed ports. The input capacitance of 35 pF makes it unsuitable for high-speed USB 2.0 applications.

Any cabled I/O can be subjected to electrical noise transients from various sources. These noise transients can cause damage to the USB transceiver or the USB ASIC if they are of sufficient magnitude and duration.

The SN65220, SN65240, and SN75240 devices ESD performance is measured at the system level, according to IEC61000-4-2; system design, however, impacts the results of these tests. To accomplish a high compliance level, careful board design and layout techniques are required.

다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 동영상

관심 가지실만한 유사 제품

open-in-new 대안 비교
다른 핀 출력을 지원하지만 비교 대상 장치와 동일한 기능
TPD4E1B06 활성 0.5nA 최대 누설을 지원하는 쿼드 0.7pF, ±5.5V, ±12kV ESD 보호 다이오드(SOT 및 SC70 패키지) Improved performance in a smaller footprint

기술 문서

star =TI에서 선정한 이 제품의 인기 문서
검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하십시오.
모두 보기2
유형 직함 날짜
* Data sheet SNx52x0 USB Port Transient Suppressors datasheet (Rev. J) PDF | HTML 2022/08/01
Selection guide System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) 2022/09/07

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
패키지 다운로드
PDIP (P) 8 옵션 보기
TSSOP (PW) 8 옵션 보기

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

동영상