JADS198 April   2026 BQ27Z846

ADVANCE INFORMATION  

1.   1
2. 1 特長
3. 2 アプリケーション
4. 3 説明
5. 4 ピン構成および機能
6. 5 仕様
   1. 5.1  絶対最大定格
   2. 5.2  ESD 定格
   3. 5.3  推奨動作条件
   4. 5.4  電源電流
   5. 5.5  1.8V LDO レギュレータ REG18
   6. 5.6  低周波数発振器 (LFO)
   7. 5.7  高周波発振器 (HFO)
   8. 5.8  PACK クランプ (PACK_CLAMP)
   9. 5.9  A/D コンバータ (VADC)
   10. 5.10 クーロン カウンタ (CCADC)
   11. 5.11 クーロン カウンタ デジタル フィルタ (CC1)
   12. 5.12 電流測定デジタル フィルタ (CC2)
   13. 5.13 ウェークアップ コンパレータ (I-WAKE)
   14. 5.14 内部温度センサ (INT_TEMP)
   15. 5.15 サーミスタ測定のサポート
   16. 5.16 ハードウェアベースの保護 (SCOMP) スレッショルド (OVP、UVP、OCC、OCD、SCD)
   17. 5.17 ハードウェアベースの保護 (SCOMP) のタイミング (OVP、UVP、OCC、OCD、SCD)
   18. 5.18 CHG、DSG NFET ドライバ
   19. 5.19 ゼロボルト充電 (ZVCHG)
   20. 5.20 汎用入出力 (INT)
   21. 5.21 I2C インターフェイス I/O (SDA、SCL)
   22. 5.22 I2C インターフェイスのタイミング
7. 6 詳細説明
   1. 6.1 概要
   2. 6.2 機能ブロック図
   3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1  BQ27Z855 プロセッサ
      2. 6.3.2  バッテリ パラメータの測定値
         1. 6.3.2.1 A/D コンバータ (VADC)
         2. 6.3.2.2 VADC マルチプレクサ
         3. 6.3.2.3 クーロン カウンタ (CCADC) とデジタル フィルタ (CC1)
         4. 6.3.2.4 内部温度センサ (INT_TEMP)
         5. 6.3.2.5 外部温度センサのサポート
      3. 6.3.3  電源制御
      4. 6.3.4  ENAB ピン
      5. 6.3.5  I2C バス通信インターフェイス
      6. 6.3.6  低周波数発振器 (LFO)
      7. 6.3.7  高周波発振器 (HFO)
      8. 6.3.8  リアルタイム クロック (RTC)
      9. 6.3.9  1.8V 低ドロップアウト レギュレータ (REG18)
      10. 6.3.10 FET ドライバ (CHG、DSG)
          1. 6.3.10.1 充電 (CHG) FET ドライバ
          2. 6.3.10.2 放電 (DSG) FET ドライバ
      11. 6.3.11 ゼロボルト充電 (ZVCHG)
      12. 6.3.12 内蔵保護
          1. 6.3.12.1 ハードウェア ベース保護
             1. 6.3.12.1.1 過電圧保護 (OVP)
             2. 6.3.12.1.2 低電圧誤動作防止 (UVP)
             3. 6.3.12.1.3 充電保護時の過電流 (OCC)
             4. 6.3.12.1.4 放電時の過電流保護 (OCD)
             5. 6.3.12.1.5 放電時の短絡電流保護 (SCD)
             6. 6.3.12.1.6 ウェークアップ コンパレータ (I-WAKE)
          2. 6.3.12.2 ファームウェアベースの保護機能
             1. 6.3.12.2.1 1 次側保護機能
             2. 6.3.12.2.2 永続的な障害保護機能
      13. 6.3.13 バッテリ残量計
      14. 6.3.14 高度なバッテリ アルゴリズム
          1. 6.3.14.1 シリコン アノード系のサポート
          2. 6.3.14.2 内部短絡表示 (ISI)
          3. 6.3.14.3 バッテリ膨張検出 (BSD)
      15. 6.3.15 充電制御機能
      16. 6.3.16 寿命データに関する記録機能
      17. 6.3.17 認証
          1. 6.3.17.1 ECC ECDSA 認証
          2. 6.3.17.2 SHA-256 認証
      18. 6.3.18 ワイヤレス (OTA) フィールド アップデータ
      19. 6.3.19 構成
          1. 6.3.19.1 セルの電圧測定
          2. 6.3.19.2 クーロン カウント
          3. 6.3.19.3 温度測定
   4. 6.4 デバイスの機能モード
8. 7 アプリケーションと実装
   1. 7.1 使用上の注意
   2. 7.2 代表的なアプリケーション回路図
      1. 7.2.1 設計要件
      2. 7.2.2 詳細な設計手順
         1. 7.2.2.1 大電流経路
            1. 7.2.2.1.1 保護用 FET
            2. 7.2.2.1.2 バッテリ セルの接続
            3. 7.2.2.1.3 センス抵抗
            4. 7.2.2.1.4 ESD 軽減
         2. 7.2.2.2 バッテリ残量管理回路
            1. 7.2.2.2.1 セル電圧測定インターフェイス
            2. 7.2.2.2.2 クーロン カウンタ インターフェイス
            3. 7.2.2.2.3 温度測定
            4. 7.2.2.2.4 1.8V 低ドロップアウト レギュレータ (REG18)
            5. 7.2.2.2.5 I2C 通信 (SDA、SCL)
            6. 7.2.2.2.6 ホストへの割り込みインターフェイス (INT)
         3. 7.2.2.3 BQ27Z746 および BQ27Z758 との共同設計
            1. 7.2.2.3.1 フットプリントの互換性と同等のピン
            2. 7.2.2.3.2 共通レイアウトの例
   3. 7.3 電源に関する推奨事項
9. 8 レイアウト
   1. 8.1 レイアウトのガイドライン
10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 9.2 ドキュメントのサポート
       1. 9.2.1 関連資料
    3. 9.3 商標
    4. 9.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 9.5 用語集
11. 10改訂履歴
12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1.     付録：パッケージ･オプション
    2. 11.1 テープおよびリール情報
    3. 11.2 メカニカル データ

1 セルバッテリパック向け、保護機能および認証機能を内蔵した BQ27Z846 Dynamic Z-Track™ 残量計

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