JAJSFT9A May   2009  – July 2018 TLC5952

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      代表的なアプリケーション回路 (複数のTLC5952のデイジー・チェーン接続)
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. 7 Parameter Measurement Information
    1. 7.1 Pin Equivalent Input and Output Schematic Diagrams
    2. 7.2 Test Circuits
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Maximum Constant-Sink-Current Value
      2. 8.3.2 Global Brightness Control (BC) Function: Sink-Current Control
      3. 8.3.3 Constant-Current Output On-Off Control
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 LOD, LSD, and TEF Operation
      2. 8.4.2 Register and Data Latch Configuration
        1. 8.4.2.1 Output On-Off Data Latch
        2. 8.4.2.2 Control-Data Latch
        3. 8.4.2.3 Status Information Data (SID)
        4. 8.4.2.4 LED-Open Detection (LOD), LED-Short Detection (LSD), And Thermal Error Flag (TEF)
        5. 8.4.2.5 Thermal Shutdown (TSD)
        6. 8.4.2.6 Noise Reduction
  9. 9 Power Supply Recommendations
  10. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 10.2 コミュニティ・リソース
    3. 10.3 商標
    4. 10.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 10.5 Glossary
  11. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.2 Test Circuits

TLC5952 tac_rise_fall_outn_bvs129.gif
CL includes measurement probe and jig capacitance.
X = R, G, or B; n = 0-7.
 
Figure 30. Rise Time and Fall Time Test Circuit for OUTRn, -Gn, -Bn
TLC5952 tac_test_outn_bvs129.gif
X = R, G, or B; n = 0–7.
Figure 32. Constant-Current Test Circuit for OUTRn, -Gn, -Bn
TLC5952 tac_rise_fall_sout_bvs129.gif
CL includes measurement probe and jig capacitance.
 
Figure 31. Rise Time and Fall Time Test Circuit for SOUT