JAJSHB0 April   2019 TPS650002-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      代表的なアプリケーションの回路図
  4. 改訂履歴
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Step-Down Converter
      2. 7.3.2 Soft Start
      3. 7.3.3 Linear Regulators
      4. 7.3.4 Power Good
    4. 7.4 Device Functional Modes
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Output Filter Design (Inductor and Output Capacitor)
          1. 8.2.2.1.1 Inductor Selection
          2. 8.2.2.1.2 Output Capacitor Selection
        2. 8.2.2.2 Input Capacitor Selection
      3. 8.2.3 Application Curves
  9. Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Examples
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 デバイス・サポート
      1. 11.1.1 デベロッパー・ネットワークの製品に関する免責事項
    2. 11.2 ドキュメントのサポート
      1. 11.2.1 関連資料
    3. 11.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 11.4 コミュニティ・リソース
    5. 11.5 商標
    6. 11.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 11.7 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

Thermal Information

THERMAL METRIC(1) TPS650002-Q1s UNIT
RTE (WQFN)
16 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 46.4 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 56.1 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 19.2 °C/W
ψJT Junction-to-top characterization parameter 1.1 °C/W
ψJB Junction-to-board characterization parameter 19.1 °C/W
RθJC(bot) Junction-to-case (bottom) thermal resistance 5.4 °C/W
For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.