更新した ICT 設定を実装すると、波形の品質が大幅に向上しました。ワーストケースのオーバーシュートは 8.62V から 3.54V に減少し、ワーストケースのアンダーシュートは -4.28V から -0.35V に改善されました。すべての測定電圧は、データシートにあるデバイスの絶対最大仕様の範囲内でした。ペデスタルの競合がなくなりました。

オシロスコープの測定でも、リンギング振幅と過渡スパイク エネルギーが大幅に低減されています。新しい ICT 法を実装して直列抵抗を追加した生産試験では、それ以上の I/O 損傷や Low から動かなくなる状態は観測されませんでした。