JADA277 August   2026 AM263P4

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. 1 概要
    1. 1.1 目的と範囲
    2. 1.2 EOS の定義と重要性
    3. 1.3 EOS と ESD との関係
  5. 2 デバイスの概要と EOS 感受性
    1. 2.1 AM26xx シリーズの概要
    2. 2.2 C2000 シリーズの概要
    3. 2.3 重要なピンとインターフェイス
      1. 2.3.1 電源ピン
      2. 2.3.2 リセットおよび構成ピン：
      3. 2.3.3 通信インターフェイス ピン：
      4. 2.3.4 アナログ入力ピン (ADC)：
      5. 2.3.5 PWM 出力ピン (C2000)：
    4. 2.4 パワードメインとシーケンシング要件
      1. 2.4.1 AM26xx 電源ドメイン：
      2. 2.4.2 シーケンシングの要件：
      3. 2.4.3 C2000 電源ドメイン：
      4. 2.4.4 シーケンシング違反の影響：
  6. 3 EOS の基礎と故障メカニズム
    1. 3.1 ESD ダイオード電流仕様
      1. 3.1.1 仕様を理解する
      2. 3.1.2 ESD ダイオード保護構造
      3. 3.1.3 電源サイクル時の重要な副作用
    2. 3.2 システム設計の EOS ソース
      1. 3.2.1 バスの競合
      2. 3.2.2 不適切な電圧レベル
      3. 3.2.3 インピーダンスの不整合とシグナル インテグリティ
      4. 3.2.4 フィルタリングとアースが不適切
  7. 4 I/O インターフェイス保護
    1. 4.1 デジタル I/O 保護
    2. 4.2 通信インターフェイスの保護
      1. 4.2.1 産業用イーサネット (AM26xx RMII/RGMII)：
      2. 4.2.2 CAN バス：
      3. 4.2.3 SPI、I2C、UART:
    3. 4.3 PWM 出力保護 (C2000)
  8. 5 PCB 設計ガイドライン
    1. 5.1 部品の配置
    2. 5.2 配線
    3. 5.3 グランド プレーン設計
    4. 5.4 EOS 固有レイアウトに関する考慮事項
    5. 5.5 製造および組み立て EOS の防止
      1. 5.5.1 ボード アセンブリの EOS ソース
      2. 5.5.2 製造時の確認事項
  9. 6 インサーキット テスト (ICT) EOS の軽減
    1. 6.1 ホットプラグのリスク
      1. 6.1.1 ホットプラグによる故障のメカニズム
      2. 6.1.2 ホットプラグ防止
    2. 6.2 ICT 中の電源シーケンシング
      1. 6.2.1 主要なシーケンシング要件
      2. 6.2.2 ICT 電源シーケンス違反
    3. 6.3 帯電基板イベント (CBE)
      1. 6.3.1 CBE メカニズム
      2. 6.3.2 大容量電荷の放散を低減
        1. 6.3.2.1 逆充電メカニズム
        2. 6.3.2.2 ボードレベルのシャント保護
    4. 6.4 VSS ファースト接続戦略
      1. 6.4.1 VSS ファースト設計の原則
      2. 6.4.2 実装方法
    5. 6.5 手動接続用コネクタの保護
      1. 6.5.1 保護方式
  10. 7 外付け保護部品
    1. 7.1 TVS ダイオードの選択
      1. 7.1.1 主要なパラメータ：
      2. 7.1.2 単方向動作と双方向動作の比較：
      3. 7.1.3 配置：
    2. 7.2 フィルタ設計
    3. 7.3 電圧クランプ ソリューション
  11. 8 設計例とケース スタディ
    1. 8.1 ケース スタディ：VDD/VSS プレーン接続が不十分
    2. 8.2 ケース スタディ：無効な PORz シーケンスによる I/O バッファの貫通電流発生
    3. 8.3 ケース スタディ：有効なリセット前のアイソレータ出力イネーブルによる信号発生
    4. 8.4 ケース スタディ：製造テスト プロセスの改善
  12. 9 まとめと推奨
    1. 9.1 重要なポイント
    2. 9.2 AM26xx/C2000 システム向けのデザイン チェックリスト
  13. 10参考資料
Application Note

AM26xx および C2000 マイコンの電気的オーバーストレス (EOS) 保護のガイドライン

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