JAJSSI7J August   2001  – December 2023 UCC29002 , UCC39002

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特長
  3. 2アプリケーション
  4. 3概要
  5. 4Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 5Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  7. 6Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Differential Current-Sense Amplifier (CS+, CS−, CSO)
      2. 6.3.2 Load-Share Bus Driver Amplifier (CSO, LS)
      3. 6.3.3 Load-Share Bus Receiver Amplifier (LS)
      4. 6.3.4 Error Amplifier (EAO)
      5. 6.3.5 Adjust Amplifier Output (ADJ)
      6. 6.3.6 Enable Function (CS+, CS−)
      7. 6.3.7 Fault Protection on LS Bus
      8. 6.3.8 Start-Up and Adjust Logic
      9. 6.3.9 Bias Input and Bias_OK Circuit (VDD)
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Start-Up Mode
      2. 6.4.2 Normal Running Mode
      3. 6.4.3 Fault Mode
      4. 6.4.4 Disabled Mode
  8. 7Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Paralleling the Power Modules
    3. 7.3 Typical Application
      1. 7.3.1 Measuring the Voltage Loop of a Power Module
      2. 7.3.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.3.2.1 The Shunt Resistor
        2. 7.3.2.2 The CSA Gain
        3. 7.3.2.3 Determining RADJ
        4. 7.3.2.4 Error Amplifier Compensation
      3. 7.3.3 Application Curve
    4. 7.4 Power Supply Recommendations
    5. 7.5 Layout
      1. 7.5.1 Layout Guidelines
      2. 7.5.2 Layout Example
  9. 8Device and Documentation Support
    1. 8.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
      1. 8.1.1 Documentation Support
    2. 8.2 Related Links
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. 9Revision History
  11.   Mechanical, Packaging, and Orderable Information

8.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。