Alimentación para sus sistemas integrados
TI dispone de soluciones de alimentación para sus sistemas en chip (SoC), procesadores, microcontroladores, sensores o matrices de compuertas programables de campo (FPGA).
Para comenzar su próximo diseño, encuentre soluciones integrales de alimentación a través de nuestros diseños de referencia y otros recursos
Como su socio en gestión de alimentación, nos comprometemos a proporcionar las capacidades y la flexibilidad necesarias para cumplir los requisitos de seguridad funcional al tiempo que se alcanzan los objetivos de rendimiento. Para reducir la complejidad del diseño y agilizar la comercialización, explore nuestros recursos técnicos y empiece a desarrollar su diseño hoy mismo.
Texas Instruments
Altera
Diseño de referencia de energía de Agilex de FPGA Xilinx® e Intel® de alto rendimiento con TPS650861 | Diseño de referencia |
Diseño de referencia de potencia Cyclone III FPGA con TPS65023 | Diseño de referencia |
Diseño de referencia de alimentación Cyclone V con TPS65218D0 | Diseño de referencia |
Diseño de referencia de alimentación Cyclone IV de FPGA con TPS65023 | Diseño de referencia |
Diseño de referencia de alimentación MAX 10 de FPGA con TPS65218D0 | Diseño de referencia |
Diseño de referencia de energía flexible de Stratix 10 de FPGA Xilinx® e Intel® de alto rendimiento con TPS650861 | Diseño de referencia |
AMD
Autochips
Diseño de fuente de alimentación AC8015 con LP87522EQ1 y LP873244-Q1 | Nota sobre la aplicación |
Broadcom
Diseño de fuente de alimentación Strata XGS con TPS53681 y CSD95410 | Artículo técnico |
Infineon
Intel
Marvell
Diseño de fuente de alimentación CN99xx ThunderX2 con TPS53679 y CSD95490Q5MC | Diseño de referencia |
MediaTek
Guía de configuración de MT2712 (P/S/H/E/C) con LP8756x-Q1 | Guía del usuario |
Guía de configuración de MT2712M con LP8733-Q1 y LP8732-Q1 | Guía del usuario |
Mobileye
Diseño de la fuente de alimentación de EyeQ4 con LP875701-Q1 | Guía del usuario |
Diseño de la fuente de alimentación de EyeQ4 con LP875761-Q1 | Informe de solicitud |
Diseño de fuente de alimentación de carril de núcleo alto EyeQ5 con TPS59632-Q1 y TPS59603-Q1 | Informe de solicitud |
Diseño de fuente de alimentación de carril de núcleo medio EyeQ5 con TPS59632-Q1 y TPS59603-Q1 | Informe de solicitud |
Diseño de fuente de alimentación de carril central de tensión de alimentación (VCC) media-baja para EyeQ5 con TPS59632-Q1 y TPS59603-Q1 | Informe de solicitud |
Solución de alimentación EyeQ6L | Información general del producto |
NXP
OmniVision
onsemi
Renesas
SemiDrive
Diseño de fuente de alimentación X9H con LP87565-Q1 + LP87523-Q1 | Nota sobre la aplicación |
Diseño de fuente de alimentación X9P/X9U con LP8732-Q1 + LP87561-Q1 + LP87562-Q1 + LP87521-Q1 + LP87524-Q1 | Nota sobre la aplicación |
Sony
Telechips
Guía de configuración de TCC80x, TCC8050/53 con LP87563-Q1 + LP8733-Q1 | Guía del usuario |
Guía de configuración de TCC80x, TCC8059 con LP87563-Q1 + LP87524-Q1 | Guía del usuario |
Guía de configuración de TCC80x, TCC803x con LP8733-Q1 y LP8732-Q1 | Guía del usuario |
Xilinx
¿Por qué elegir una solución de alimentación de TI?
Optimización para sus requisitos de diseño
Nuestra gama de circuitos integrados de gestión de alimentación (PMIC), convertidores reductores, reguladores de caída baja, supervisores y monitores le permite optimizar el tamaño, el costo y el rendimiento.
Soluciones de alimentación probadas
TI se asocia de forma proactiva con varios proveedores de SoC y cuenta con soluciones de alimentación preaprobadas para diseños de productos integrales, lo que acelera el tiempo de comercialización y reduce el riesgo.
Alto rendimiento
Cumpla los estrictos requisitos de tolerancia de regulación de tensión con fuentes de alimentación de respuesta rápida. Supere las pruebas de compatibilidad electromagnética con soluciones de alimentación de baja interferencia electromagnética.
Certificación de seguridad funcional optimizada
Alcance sus objetivos de seguridad con dispositivos de alimentación conformes con la norma ISO 26262 y acceso a índices de fallos en el tiempo; modos de fallo, efectos y análisis de diagnóstico; y otra documentación de seguridad.