Pruebas de esfuerzo de almacenamiento a alta temperatura para módulos de alimentación
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05 FEB 2025
Aunque se espera que las fuentes de alimentación se calienten, igual se espera que duren mucho tiempo. Las pruebas de esfuerzo del proceso de almacenamiento a alta temperatura (HTS) de TI simula la capacidad de un componente para soportar altas temperaturas durante largos períodos de tiempo. Los inductores, en particular, muestran sensibilidad a las pruebas HTS. En esta capacitación en video, se detalla el proceso de pruebas HTS de TI para los módulos de alimentación con inductores integrados y cómo TI garantiza un módulo de alimentación más confiable para el cliente.
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El valor de los módulos de alimentación
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