堅牢性テスト
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2024 年 09 月 30 日
| このシリーズはオペアンプの電気的オーバーストレス (EOS) に関連した 4 つのテーマで構成され、今回が第 4 回目となります。このビデオでは、最も一般的な種類の有害な電気的過渡が発生したときにデバイスがどのような方法で破損するか、またそれらの過渡に対する製品の堅牢性を判断するために使用する標準的なテストについて説明します。 |
リソース
このビデオは、シリーズの一部です
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プレシジョン ラボ シリーズ：オペアンプ
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