TI における機能安全：FIT (故障率) レート

00:08:28 | 2025 年 02 月 27 日
IEC 61508 や ISO 26262 などの機能安全規格は半導体デバイス メーカーに対し、決定論的原因故障とランダム ハードウェア故障への対処を求めています。これは入門用プレゼンテーションであり、 FIT (故障率) 定格と FIT 定格の各種規格の概要と、TI の機能安全認証プロセスを紹介します

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