TPD1E01B04-Q1
- IEC 61000-4-2 4 级 ESD 保护
- ±15kV 接触放电
- ±17kV 空气间隙放电
- IEC 61000-4-4 EFT 保护
- 80A (5/50ns)
- IEC 61000-4-5 浪涌保护
- 2.5A (8/20µs)
- IO 电容：
- 0.20pF（典型值）
- 0.23pF（最大值）
- 直流击穿电压：6.4V（典型值）
- 超低泄漏电流：10nA（最大值）
- 低 ESD 钳位电压：16A TLP 时为 15V
- 低插入损耗：20 GHz
- 支持速率高达 20Gbps 的高速接口
- 业界通用 0402 封装
- 符合 AEC-Q101 标准
- 器件 HBM 分类等级 H2
- 器件 CDM 分类等级 C5
- 器件工作温度范围：–40°C 至 +125°C
TPD1E01B04-Q1 是一款双向 TVS ESD 保护二极管，用于为 USB Type-C 和 FPD-Link 电路提供保护。 TPD1E01B04-Q1 的额定 ESD 冲击消散值等于 IEC 61000-4-2 国际标准（4 级）规定的最高水平。
该器件采用一个 0.20pF（典型值）的 IO 电容，适用于保护速率高达 20Gbps 的高速接口（例如 USB 3.1 Gen2 和 FPD-Link）。低动态电阻和低钳位电压确保系统级抗瞬变事件保护。
TPD1E01B04-Q1 采用业界通用的 0402 (DPY) 封装。
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技术文档
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设计和开发
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<p>静电敏感器件 (ESD) 评估模块 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 产品系列的开发平台。为了测试任何型号的器件，该电路板支持所有传统的 ESD 封装结构。器件可以焊接到相应封装结构，然后进行测试。</p>
<p>如果是典型的高速 ESD 二极管，则应采用阻抗受控布局来获取 S 参数并剥离电路板引线。如果是非高速 ESD 二极管，则应采用有布线连接到测试点的封装结构，以便轻松运行直流测试，例如击穿电压、保持电压、漏电流等。该电路板布局还可以通过将信号引脚短接至信号所在的位置，轻松地将任何器件引脚连接到电源 (V<sub>CC</sub>) 或接地。</p>
PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®
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