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Biestables tipo D

SN74LV273A-Q1

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Biestables octales de tipo D con opción de eliminación de calidad automotriz

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SN74LV273A-Q1

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Detalles del producto

Number of channels 8 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 70 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Number of channels 8 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 70 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
VQFN (RKS) 20 11.25 mm² 4.5 x 2.5 VSSOP (DGS) 20 24.99 mm² 5.1 x 4.9
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1:
      • 40°C to + 125°C, TA
    • Device HBM ESD Classifiaction Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Available in wettable flank QFN (WRKS) package
  • 2 V to 5.5 V VCC operation
  • Maximum tpd of 10.5 ns at 5 V
  • Supports mixed-mode voltage operation on all ports
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1:
      • 40°C to + 125°C, TA
    • Device HBM ESD Classifiaction Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Available in wettable flank QFN (WRKS) package
  • 2 V to 5.5 V VCC operation
  • Maximum tpd of 10.5 ns at 5 V
  • Supports mixed-mode voltage operation on all ports
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74LV273A-Q1 device is an octal positive-edge triggered D-type flip-flop with shared direct active low clear (CLR) input and clock (CLK).

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the (Q) outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level or transitioning from a high level to a low level, the D input has no effect at the output. Information at the data (Q) outputs can be asynchronously cleared with a low level input through the clear (CLR) pin.

The SN74LV273A-Q1 device is an octal positive-edge triggered D-type flip-flop with shared direct active low clear (CLR) input and clock (CLK).

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the (Q) outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level or transitioning from a high level to a low level, the D input has no effect at the output. Information at the data (Q) outputs can be asynchronously cleared with a low level input through the clear (CLR) pin.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74LV273A-Q1 Automotive Octal D-Type Flip-Flops With Clear datasheet (Rev. B) 26 ene 2023

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74LV273A-Q1 IBIS Model

SCLM350.ZIP (44 KB) - IBIS Model
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Paquete Pasadores Descargar
VQFN (RKS) 20 Ver opciones
VSSOP (DGS) 20 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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