AFE7070EVM AFE7070 통합 NCO, 듀얼 14비트 65MSPS DAC, RF IQ 모듈레이터 및 LVDS 출력 옵션 EVM top board image

AFE7070EVM

AFE7070 통합 NCO, 듀얼 14비트 65MSPS DAC, RF IQ 모듈레이터 및 LVDS 출력 옵션 EVM

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AFE7070EVM의 주요 특징

  • AFE7070을 위한 포괄적인 테스트 기능
  • TSW3100/TSW1400 패턴 생성기에 직접 연결
  • 클록 생성 또는 지터 클리닝을 위한 CDCM7005 포함
  • 폭넓은 클로킹 옵션 수용
  • 간편한 테스트 및 프로토타이핑을 위한 완전한 기능을 갖춘 GUI로 소프트웨어 지원
  • LDO 또는 DC/DC 전원 공급 장치 옵션
  • AFE7070EVM에 대한 설명

    AFE7070EVM은 설계자가 프로그래머블 4차 베이스밴드 필터 및 아날로그 직교 모듈레이터가 결합된 듀얼 14비트 65 MSPS DAC(디지털-아날로그 컨버터)인 텍사스 인스트루먼트 AFE7070 트랜스미터의 성능을 평가할 수 있는 회로 기판입니다. AFE7070에는 주파수 생성/변환을 위한 수치적 제어 오실레이터 및 직교 모듈레이터 보정 회로와 같은 추가 디지털 신호 처리 기능이 포함되어 있어 LO 누출 및 측파대 억제 기능을 제공합니다.

    이 EVM은 다양한 클록, 데이터 입력 및 IF 또는 RF 출력 조건에서 AFE7070을 테스트할 수 있는 유연한 환경을 제공합니다. 사용 편의성을 위해 AFE7070EVM에는 AFE7070 클로킹을 위한 CDCM7005 클록 생성기/지터 클리너가 포함되어 있습니다. AFE7070의 RF 출력(핀 RFOUT)은 100pF 커패시터를 통해 SMA 커넥터에 AC 결합된 것으로, 50Ω 스펙트럼 분석기나 기타 테스트 장비에 직접 연결할 수 있습니다. AFE7070의 LVDS 출력은 SMA 커넥터를 통해 사용할 수도 있습니다.

    이 EVM을 TSW3100/TSW1400 패턴 생성 카드와 함께 사용하면 WCDMA, LTE 또는 기타 고성능 변조 체계를 평가할 수 있습니다. TSW3100/TSW1400은 직렬 CMOS 포트를 통해 AFE7070으로 공급되는 테스트 패턴을 생성합니다. CDCM7005 클록 칩을 사용하여 TSW3100/TSW1400 보드를 AFE7070EVM에 동기화할 수 있습니다. AFE7070EVM은 2열 헤더를 통해 CMOS 출력 패턴 생성기와 인터페이스할 수도 있습니다.

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