DAC5681ZEVM의 주요 특징
- DAC5681Z에 대한 종합 테스트 기능
- TSW3100 신호 생성기 EVM에 직접 연결
- VCXO 또는 외부 클록 소스와 함께 작동 가능한 프로그래머블 저지터 클록 신시사이저 포함
- 신호 무결성을 위해 TSW3100와 클록 동기화
- 간편한 테스트를 위해 모든 기능이 갖춰진 GUI를 통한 소프트웨어 지원
DAC5681ZEVM에 대한 설명
DAC5681ZEVM은 설계자가 FLL 1GSPS DDR LVDS 인터페이스, 일체형 2x/4x 보간 필터, 온보드 클록 멀티플라이어 및 내부 전압 레퍼런스를 지원하는 텍사스 인스트루먼트의 싱글 채널 16비트 1.0GSPS DAC(디지털-아날로그 컨버터)의 성능을 평가할 수 있는 회로 기판입니다. EVM은 다양한 클록 및 입력 조건에서 DAC5681Z를 테스트할 수 있는 유연한 환경을 제공합니다.
TSW3100과 함께 사용하여 다양한 테스트 절차를 수행할 수 있습니다. TSW3100은 1 GSPS LVDS 포트를 통해 DAC5681ZEVM로 공급되는 테스트 패턴을 생성합니다. DAC5681ZEVM에는 TSW3100 보드를 DAC5681ZEVM에 동기화하는 데 사용할 수 있는 프로그래머블 클록 칩이 들어 있습니다.